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Dual-sided Probing System 是双面同时扎针的探针系统，官网列了它支持的几种复杂配置：悬空双面探测（suspended dual-sided）、正交板测试、侧向进入（lateral / side-entry）、多板对接，以及线缆与探针混合的布置
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双面探针系统 Dual-sided Probing System|迪赛康 (在产)
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迪赛康|迪赛康科技（深圳）有限公司
双面探针系统
悬空双面 · 正交板 · 侧向进入 · 多板对接 · 不限尺寸
产品简介
Dual-sided Probing System 是双面同时扎针的探针系统，官网列了它支持的几种复杂配置：悬空双面探测（suspended dual-sided）、正交板测试、
侧向进入（lateral / side-entry）、多板对接，以及线缆与探针混合的布置。
它对被测件的尺寸不设限制，官方称是目前业内唯一提供这种兼容度的供应商。
双面探针的难点不在探针本身，而在两套针的机械基准与对位——这套系统解决的是这一层。
两面都要扎针、或者板子必须立着测的时候用。
核心参数
• 形态：系统
• 被测件尺寸限制：无
• 支持配置：悬空双面 / 正交板 / 侧向进入 / 多板对接 / 线缆+探针混合
功能特性
• 悬空双面：两面同时接触，中间悬空
• 正交板测试：板子垂直安装的测试位
• 侧向进入：从侧面插入探针，避开上方遮挡
• 多板对接：多块板同时接入
• 不限被测件尺寸：大件小件同一套系统
应用场景
• 双面器件测试：上下都有焊盘的器件
• 板级系统联调：整板上电后的在板测量
• 异构集成验证：多芯片模块的正反两面
资源下载
• 迪赛康官网产品页
• 双面探针系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自迪赛康（Designcon）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
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迪赛康|迪赛康科技（深圳）有限公司
双面探针系统 详细指标
悬空双面 · 正交板 · 侧向进入 · 多板对接 · 不限尺寸
详细指标
以下指标取自迪赛康官网该产品页（designcon.com.cn）的标称值；官网未给出的指标不做推测。
机械与针尖
• 形态：系统
• 被测件尺寸限制：无
• 支持配置：悬空双面 / 正交板 / 侧向进入 / 多板对接 / 线缆+探针混合
资源下载
以上规格取自迪赛康官网 双面探针系统 Dual-sided Probing System 产品页面（designcon.com.cn）。
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