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可移动的一站式测量系统，支持最高可达128ch的多路同时测试
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HawQ为许多公司的高度加速寿命测试(HALT)应用所开发，以快速提高他们电子产品设计的可靠性
RTS 最高128ch光器件环境可靠性测试系统 可移动|维度科技 (在产)
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系统与解决方案
维度科技
RTS 光器件环境可靠性测试系统
可移动的一站式测量系统，支持最高可达128ch的多路同时测试
功能与结构
产品概述
Dimension 光无源器件可靠性测试系统可以根据需求调整装配不同的模块，适用于对市面上的现有各类光无源器件的光学性能测试，环境稳定性测试，老化实验测试。同时该测试系统为了弥补传统设备只能在固定地方定点测试的缺点，在外观上采用拉杆行李箱的样式，将相关测试模块与处理数据的上位机都集成在箱体内部。无需担心数据处理与信息采集不及时的情况，设备可移动且独立完成整个测试任务。在生产制造测试领域的现场具有极大的优势，是真正为现场而准备的测试设备。
主要优势
• 平台+模块化设计，应用扩展齐全
• 可移动的一站式测量系统
• 支持实时测量与长时间稳定性监测
• 支持插入损耗与回波损耗同时监测
• 测量误差小，测试稳定性高
• 支持最高可达128ch的多路同时测试
• 丰富的接口配置
主要应用
• 符合各类标准： GR-326-CORE, GR-1435- CORE,
• GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE,
• Verizon FOC
• 光无源器件的光学性能检测
• 长时间稳定性测试
平台+模块化设计，应用扩展方便
维度科技的11槽位OMEGA通用光学测试平台，可以兼容包含RLM系列插回损测试模块在内的多种功能测试模块，具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、实体按键等多种控制方式。该系统集成了光开关、高稳定光源、高精度光功率计等功能测试模块，可以实现对无源器件的可靠性测试。
可移动的一站式测量系统
该系统在外观上采用拉杆行李箱的样式，将相关测试设备与处理数据PC都集成在箱体内部，设备可移动且独立完成整个测试任务。
设备集成度高，一套系统完成各类测试
不同于传统的测试方法，维度科技的可靠性测试系统里集成了插回损测试模块、光开关模块、光源，可完成插回损一次测量。
资源下载
• RTS 详细指标见本页「详细指标」标签页。
• 官方资料：光无源环境可靠性测试系统
注：以上内容与指标均取自维度科技官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
维度科技（Dimension Technology） · onetest 仪器资源库
维度科技
RTS 详细指标
可移动的一站式测量系统，支持最高可达128ch的多路同时测试
详细指标
以下指标取自维度科技官网该产品详情页「性能参数」栏目的官方参数表，未标注测试条件的为厂家公布值。
• 产品基本型号：RTS1112A-1FA-24
• 光功率计部分：模块类型 ｜ 单模
• 探测器类型：InGaAS
• 探测器大小：2mm
• 波长测试范围：850nm~1650nm
• 光功率测试范围：+10dBm~-75dBm aT 1550nm(不适用积分球)
• 线性度：±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
• 总不确定性：±(5%+500pM)
• 功率分辨率：0.001dB
• 光源部分：光纤类型 ｜ SM 9/125;Panda PMF
• 波长：1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、 1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650
• 波长精度：±5nm
• 输出功率24小时功率稳定度：±0.005dB
• 边摸抑制比：>50dB
• 主机部分：工作电源 ｜ AC90~260V/50HZ
• 开机稳定时间：20分钟(储存与使用一致) 60分钟(储存与使用温度不一致)
• 建议校准周期：两年
• 工作温度：10℃~40℃
• 储存温度：-40℃~70℃
• 尺寸：OMEGA机箱：462mmX374mmX171mm
补充说明与图示
主要规格参数
以下内容原为官网参数表截图，此处已转为文字。
• 产品基本型号：RTS1112A-1FA-24
• 光功率计部分 · 模块类型：单模
• 光功率计部分 · 探测器类型：InGaAs
• 光功率计部分 · 探测器大小：2mm
• 光功率计部分 · 波长测试范围：850nm~1650nm
• 光功率计部分 · 光功率测试范围：+15dBm~-70dBm @1550nm（不适用积分球）
• 光功率计部分 · 线性度：±0.05dB（+5dBm~-50dBm）
• 光功率计部分 · 总不确定性：±(5%+500pM)
• 光功率计部分 · 测试单位：dBm/dB
• 插损部分 · 信号通道数量：24CH
• 插损部分 · 工作波长：1310/1550
• 插损部分 · 插损测量精度：0~3dB <±0.08dB
• 插损部分 · 光纤类型：SM 9/125
• 插损部分 · 光输出接口：FC/APC
• 插损部分 · 光源稳定度：±0.01dB（常温 30 分钟）
• 回损部分 · 回损测量范围：-30~-80dB
• 回损部分 · 回损测量精度：-30~-65dB ±1.0dB；-65~-75dB ±2.0dB
• 回损部分 · 光纤测试长度：2~1000 米
• 回损部分 · 单次测量时间：<2s（单通道）
• 主机部分 · 工作电源：AC90~260V/50Hz
• 主机部分 · 开机稳定时间：20 分钟（储存与使用一致）、60 分钟（储存与使用温度不一致）
• 主机部分 · 建议校准周期：两年
• 主机部分 · 工作温度：10℃~40℃；储存温度：-40℃~70℃
• 主机部分 · 尺寸：OMEGA 机箱 462mm×374mm×171mm
针对IL的测试，更小的误差，更高的稳定性
该项测试系统使用了更高功率与稳定的SLS光源，通过PLC进行分光，满足测试中需要的多路同时测试。该系统避开了外接光开光造成对测试稳定均一性的干扰，也使用了更高稳定性的测试链路，完成单对单的高精度插损稳定测试。
资源下载
• RTS 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
• 官方资料：光无源环境可靠性测试系统
注：以上内容与指标均取自维度科技官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
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