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IM7583 阻抗分析仪
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms
产品简介
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms。IM7583 是 日置 官网 阻抗分析仪 栏目下的产品。
产品特点
• 测量频率:1MHz~600MHz
• 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
• 基本精度:±0.65% rdg.
• 测量方式:RF I-V法
• 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
• 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
• 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
功能亮点
阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。 和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,最多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。 稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。 请注意不要拧过头。
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。 阻抗分析仪精度计算软件请点击
核心指标
• 测量模式:LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
• 测量参数:Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
• 精度保证范围:100 mΩ~5 kΩ
•
显示范围:
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp,X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
• 基本精度:Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
• 测量频率:1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz)
• 测量信号电平:功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
• 输出阻抗:50 Ω (10 MHz时)
• 显示:彩色TFT8.4英寸、触屏
• 测量时间:最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
资源下载
• 详细指标请见 IM7583 阻抗分析仪 详细指标页。
注:本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料;选配、可选功能以厂家最终配置为准。
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