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Coupler 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm
一拖四共享宽带光源与 OSA 光谱分析仪
兼容 1×2、2×2、1×4 Coupler 产品与 WDM 器件
自动测试并计算 IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL 等参数
插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）
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Coupler综合测试系统 1260至1620nm 一拖四共享|光泰通信 (在产)
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光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Coupler综合测试系统
1×2/2×2/1×4 Coupler 与 WDM 器件综合测试 · 一次接线
产品简介
一次接线，同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试，支持高低温测试.一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪，节约硬件成本。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，Coupler综合测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：OSW 扫描
• 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
主要特点
一次接线，同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试，支持高低温测试.
一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪，节约硬件成本。
兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler产品和WDM器件测试，自动测试并计算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等参数。
自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 Coupler综合测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 Coupler综合测试系统
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Coupler综合测试系统 · 详细指标
1×2/2×2/1×4 Coupler 与 WDM 器件综合测试 · 一次接线
产品简介
一次接线，同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试，支持高低温测试.一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪，节约硬件成本。
官方规格表
下表按光泰通信官网 Coupler综合测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：OSW 扫描
• 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 Coupler综合测试系统 产品介绍页
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