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    WDM综合测试系统 1260至1620nm CWDM/DWDM|光泰通信
    WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试一次接线即可执行 OSA 扫描测试（可调光源扫描）与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试插损不确定度 ±0.05dB（焊接测试）／±0.1dB（连接头测试）PDL 不确定度 ±0.03dB单次扫描时间 6 至 8s（AQ6370D；步距 0.1nm）WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWLFBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数
    无源产品综合测试系统 1260至1620nm 可定制|光泰通信
    无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统兼容扫描测试与点光源测试支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）PDL 不确定度 ±0.03dB单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s
    DWDM并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    DWDM 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm支持 DWDM/AWG 模块（器件）与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试支持多工位对可调光源实时并行共享扫描插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）单通道扫描时间 6 至 10s、单点 PDL 纯测时间 3 至 5s
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    CWDM一拖四扫描测试系统 1260至1620nm OSW扫描|光泰通信

    CWDM一拖四扫描测试系统 1260至1620nm OSW扫描|光泰通信 (在产)

    CWDM 一拖四扫描测试系统工作波长 1260 至 1620nm

    采用宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用

    兼容 CWDM 器件与模块扫描测试；支持高低温测试与升降温自动延时控制

    插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）

    单通道扫描时间 6 至 8s（AQ6370

    1250 至 1650nm；步距 0.1nm）

    可自动计算 ITU IL、Min/Max IL、Ripple、TDL、Isolation及不同 dB 条件下的中心波长与带宽

    兼容混合 EXP/UPG/Coupler/Monitor 通道的复杂 WDM 模块

    参考价格 ：

    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司 （收录28个产品）

    产地：中国 深圳

    点击访问厂家官网

    产品描述
    详细指标
    软件和手册|白皮书
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    测评
    口碑
    系统与解决方案

    光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
    CWDM一拖四扫描测试系统
    CWDM 器件与模块扫描测试 · OSW 扫描 · 宽带光源与 OSA 四工位共享
    产品简介
    充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
    CWDM一拖四扫描测试系统 测试界面示意图
    图：测试界面示意图
    官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，CWDM一拖四扫描测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
    核心参数
    • 工作波长：1260 至 1620 nm
    • 测试指标：IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL 等
    • 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
    • 测量模式：OSW 扫描
    • 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
    • 可测产品类型：CWDM 器件、CWDM 模块、FWDM
    主要特点
    充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
    兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
    自动扫描并计算ITU IL、Min IL、Max IL、Ripple、TDL，Isolation以及不同dB值条件下的CWL、Bandwidth等各种参数。
    兼容复杂的CWDM模块扫描测试和计算，如混合了EXP、UPG、Coupler器件和Monitor通道的WDM模块，或者是MUX/DEMUX，TX/RX等多个模块组合的特殊模组。
    自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
    资源下载
    • 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 CWDM一拖四扫描测试系统 详细指标页
    onetest仪器资源库 · 光泰通信 CWDM一拖四扫描测试系统

     

     

    光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
    CWDM一拖四扫描测试系统 · 详细指标
    CWDM 器件与模块扫描测试 · OSW 扫描 · 宽带光源与 OSA 四工位共享
    产品简介
    充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
    官方规格表
    下表按光泰通信官网 CWDM一拖四扫描测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
    • 工作波长：1260 至 1620 nm
    • 测试指标：IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL 等
    • 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
    • 测量模式：OSW 扫描
    • 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
    • 可测产品类型：CWDM 器件、CWDM 模块、FWDM
    注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
    资源下载
    • 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 CWDM一拖四扫描测试系统 产品介绍页
    onetest仪器资源库 · 光泰通信 CWDM一拖四扫描测试系统
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