DWDM/AWG 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm
支持 DWDM/AWG 模块(器件)与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试
支持多工位对可调光源实时并行共享扫描
插损(IL)不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试)
PDL 不确定度 ±0.03dB
单通道扫描时间 3s、单点 PDL 纯测时间 1s
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DWDM/AWG 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm
支持 DWDM/AWG 模块(器件)与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试
支持多工位对可调光源实时并行共享扫描
插损(IL)不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试)
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单通道扫描时间 3s、单点 PDL 纯测时间 1s

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