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无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm
支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统
兼容扫描测试与点光源测试
支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享
插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）
PDL 不确定度 ±0.03dB
单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s
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无源产品综合测试系统 1260至1620nm 可定制|光泰通信 (在产)
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光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
无源产品综合测试系统
Coupler/WDM/Isolator/Circulator 定制综合测试 · 扫描 + 点光源
产品简介
支持定制开发Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统。兼容扫描测试和点光源测试。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，无源产品综合测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：IL/PDL/RL/DIR/CT/WDT/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：点光源 + 功率计
• 单通道扫描时间：5 s
• 单点 PDL 纯测时间：1 s
• 可测产品类型：Isolator/Circulator
主要特点
支持定制开发Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统。
兼容扫描测试和点光源测试。
支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。
一次接线可以执行扫描测试IL，Rip，ISO以及单点IL，PDL，INRL，OUTRL，DIR等参数。
自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 无源产品综合测试系统 详细指标页
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无源产品综合测试系统 · 详细指标
Coupler/WDM/Isolator/Circulator 定制综合测试 · 扫描 + 点光源
产品简介
支持定制开发Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统。兼容扫描测试和点光源测试。
官方规格表
下表按光泰通信官网 无源产品综合测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：IL/PDL/RL/DIR/CT/WDT/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：点光源 + 功率计
• 单通道扫描时间：5 s
• 单点 PDL 纯测时间：1 s
• 可测产品类型：Isolator/Circulator
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 无源产品综合测试系统 产品介绍页
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