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WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm
兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler
一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试
插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试）
PDL 不确定度 ±0.03dB
单次扫描时间 6 至 8s
WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL
FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数
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WDM/FBT综合测试系统 1260至1620nm 四工位复用|光泰通信 (在产)
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光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
WDM/FBT综合测试系统
WDM 器件与 Coupler 综合测试 · OSA 扫描 + 单功率计点测
产品简介
兼容扫描和点测WDM器件以及1X2,2X2Coupler产品。充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，WDM/FBT综合测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation/PDL/INRL/OUTRL/DIR 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：OSA 扫描/单功率计点测
• 单次扫描时间：6 至 8 s（AQ6370D，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 单点 PDL 纯测时间：3 至 5 s
• 可测产品类型：CWDM/1×2 Coupler/2×2 Coupler
主要特点
兼容扫描和点测WDM器件以及1X2,2X2Coupler产品。
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
一次接线，可以执行OSA扫描测试以及单点IL,PDL,INRL,OUTRL,DIR等参数。
WDM产品可分析数据计算IL,RIP,ADJ,NADJ,CWL,DCWL；FBT产品可分析数据计算IL_Min，IL_Max，WDL等参数。
自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 WDM/FBT综合测试系统 详细指标页
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WDM/FBT综合测试系统 · 详细指标
WDM 器件与 Coupler 综合测试 · OSA 扫描 + 单功率计点测
产品简介
兼容扫描和点测WDM器件以及1X2,2X2Coupler产品。充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
官方规格表
下表按光泰通信官网 WDM/FBT综合测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation/PDL/INRL/OUTRL/DIR 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• PDL 不确定度：±0.03 dB
• 测量模式：OSA 扫描/单功率计点测
• 单次扫描时间：6 至 8 s（AQ6370D，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 单点 PDL 纯测时间：3 至 5 s
• 可测产品类型：CWDM/1×2 Coupler/2×2 Coupler
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 WDM/FBT综合测试系统 产品介绍页
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