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T5503HS2 高速 DRAM 测试系统 9Gbps|爱德万测试 (在产)

面向 LP-DDR5/DDR5 与高带宽存储器的单系统解决方案,16,256 通道、评估速度高达 9Gbps,时序精度 ±45ps,可从 T5503 低成本升级

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爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试(Advantest Corporation)
T5503HS2 高速 DRAM 测试系统 9Gbps
评估速率 9Gbps · 16,256 通道 · 时序精度 ±45ps · 4.5GHz 高速时钟选件
产品简介
T5503HS2 是用于测试 LP-DDR5、DDR5 设备和高带宽存储器的单系统解决方案,设计用于评估速度高达 9Gbps 的 DUT,总体计时精度为 ±45 皮秒。通过可选的 4.5GHz 高速时钟,测试仪可以扩展以支持未来几代更快速的存储器设备。
该系统采用 16,256 个通道,在测试高速 SDRAM 半导体以及 DDR4 IC、LP-DDR4 设备和高带宽存储器方面实现了业界最高的并行性与最佳成本效益。已安装的 T5503 测试仪能够以低成本无缝升级为 T5503HS2 系统。
官方定位:评估速率 9Gbps · 16,256 通道 · 时序精度 ±45ps · 4.5GHz 高速时钟选件
核心参数
• 评估速率:高达 9Gbps
• 总体计时精度:±45ps
• 通道数:16,256
• 高速时钟选件:4.5GHz
• 目标器件:LP-DDR5、DDR5、DDR4 IC、LP-DDR4、高带宽存储器(HBM)
• 模式发生:强大算法模式发生器(ALPG)
• 升级路径:T5503 可低成本无缝升级
面向高速器件的测试能力
• 自动识别和调整 DQS-DQ 时序差异
• 实时跟踪确保更充足的时序余量
• ALPG 有利于快速、高质量地测试创新设备功能
电源与精度改进
• 新可编程电源响应时间比前代快四倍
• 大幅降低电压损失和误差
面向未来的可扩展性
• T5503 以低成本升级为 T5503HS2
• 持续提供高生产率、高精度与成本效益,实现投资回报率最大化
典型应用场景
• DDR5/LP-DDR5 量产测试
• 高带宽存储器(HBM)测试
• 高速 SDRAM 半导体测试
• DDR4/LP-DDR4 存量产线升级
资源下载
• 详细指标:全部技术指标已单独整理,详见 T5503HS2 详细指标页
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 T5503HS2

 

 

爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试(Advantest Corporation)
T5503HS2 · 详细指标
评估速率 9Gbps · 16,256 通道 · 时序精度 ±45ps · 4.5GHz 高速时钟选件
产品简介
面向 LP-DDR5/DDR5 与高带宽存储器的单系统解决方案,16,256 通道、评估速度高达 9Gbps,时序精度 ±45ps,可从 T5503 低成本升级。
官方定位:评估速率 9Gbps · 16,256 通道 · 时序精度 ±45ps · 4.5GHz 高速时钟选件
核心规格
• 评估速率:高达 9Gbps
• 总体计时精度:±45ps
• 通道数:16,256
• 高速时钟选件:4.5GHz
• 目标器件:LP-DDR5、DDR5、DDR4 IC、LP-DDR4、高带宽存储器(HBM)
• 模式发生:强大算法模式发生器(ALPG)
• 升级路径:T5503 可低成本无缝升级
面向高速器件的测试能力
• 自动识别和调整 DQS-DQ 时序差异
• 实时跟踪确保更充足的时序余量
• ALPG 有利于快速、高质量地测试创新设备功能
电源与精度改进
• 新可编程电源响应时间比前代快四倍
• 大幅降低电压损失和误差
面向未来的可扩展性
• T5503 以低成本升级为 T5503HS2
• 持续提供高生产率、高精度与成本效益,实现投资回报率最大化
典型应用场景
• DDR5/LP-DDR5 量产测试
• 高带宽存储器(HBM)测试
• 高速 SDRAM 半导体测试
• DDR4/LP-DDR4 存量产线升级
官方产品页指标原文
• T5503HS2设计用于评估速度高达9Gbps的DUT,总体计时精度为±45皮秒。通过可选的4.5-GHz高速时钟,该测试仪可以扩展,从而支持未来几代更快速的存储器设备。
注:以上指标按爱德万测试中国站产品页与其公开手册整理,未特别说明者为厂商标称值;如官网与手册冲突以厂商最新发布为准。
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onetest仪器资源库 · 爱德万测试 T5503HS2 详细指标

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