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光仪表插卡式集成：各功能模块设计成插卡式，用户可根据实际需求灵活优化硬件配置。
软件平台化：软件高度封装，子功能模块可随意调用和组合，支持二次开发。
多通道并行测试：增加通道数量，实现并行测试，显著提升测试效率。
集成 TEC 温度控制系统：基于 TEC 的温控系统，支持模块在 - 40℃ ~ 90℃（或 - 10℃ ~ 85℃）进行温度循环测试。
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联讯仪器的 MTP8102 系列是一款集一体化光口误码分析仪（BERT）和三温水冷控制系统于一体的误码综合测试系统，主要用于 800G 高速光模块在不同温度环境下的误码测试。通过环境温度设置，可实现对 800G OSFP、800G QDD 等光模块在不同温度下的误码测试。该系列集成式 MCB 测试卡方便 DUT 插拔式测试，集成标准光源插口，节省测试台空间和成本。内部误码仪支持 4 电平脉冲幅度调制（PAM4）和非归零（NRZ）信号，符号率高达 60Gbaud，覆盖 200/400/800GbE 和 CEI - 112G 标准，可用于物理层表征和一致性测试。
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ATE8104/ATE8108 光模块测试一体机 |联讯仪器 (在产)
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系统与解决方案
高速光模块测试机 ATE8104/ATE8108
ATE8104/ATE8108 光模块测试一体机是一款整合多种功能的测试系统，旨在优化光模块测试流程、提高测试效率并降低成本。
产品概述：ATE 一体机测试系统整合了光模块的各类测试用例，将子功能模块按需求组合，用户可灵活配置，提升光模块测试仪表利用率，降低测试成本。其软件封装了光模块测试参数，方便用户快速搭建测试系统，加速新产品量产导入。系统采用多路并行测试，结合软硬件优势，提高单位产品测试效率。
功能特点
光仪表插卡式集成：各功能模块设计成插卡式，用户可根据实际需求灵活优化硬件配置。
软件平台化：软件高度封装，子功能模块可随意调用和组合，支持二次开发。
多通道并行测试：增加通道数量，实现并行测试，显著提升测试效率。
集成 TEC 温度控制系统：基于 TEC 的温控系统，支持模块在 - 40℃ ~ 90℃（或 - 10℃ ~ 85℃）进行温度循环测试。
功能优势
插卡式光仪表集成：集成常用光仪表，如光功率计、光开关、光衰、光 CDR，以及常用无源器件 MUX/DEMUX/Splitter，配置灵活。
集成温循测试系统：能在特定温度范围内进行测试，满足光模块不同工作温度环境的测试需求。
平台化软件系统：子功能模块化，支持拖拽操作，功能单元标准化，减少重复开发。软件还具备自动生成报表功能，涵盖合格率分析、直通率分析、不良原因统计分析、物料消耗数量统计、人员工时统计分析等，并能定时推送报表。
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