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MTP8104 800G光模块测试仪 四通道|联讯仪器 (在产)

MTP8104 光模块测试仪(光通信综合测试仪) MTP8104属于光通信综合测试仪类别。联讯仪器800G四通道光模块测试仪是集误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪,多路待测模块MCB,多路独立控温单元,无需外部射频电缆互联。通过不同热循环设置,实现不同环境温度条件下的高速光模块误码测试。
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光模块测试仪 MTP8104|联讯仪器

联讯仪器 Semight
光模块测试仪 MTP8104
联讯仪器800G四通道光模块测试仪是集误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪,多路待测模块MCB,多路独立控温单元,无需外部射频电缆互联。
产品简介
联讯仪器800G四通道光模块测试仪是集误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪,多路待测模块MCB,多路独立控温单元,无需外部射频电缆互联。通过不同热循环设置,实现不同环境温度条件下的高速光模块误码测试。
核心参数
• 应用灵活:速率范围宽,性能优异:速率支持范围:24.33~56.4 GBaud
• 测试功能丰富:支持硬件PCS层FEC编解码及纠错分析
• 信号质量优异:快速上升下降沿、低固有抖动
• 丰富测试码型:PRBS7~31Q;SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等
• 效率高,一站式解决:集成TEC温循件
• 配件/选件丰富:耗材维护成本低
• 综合成本低:测试工位配置更加灵活,配件更换便捷,综合测试成本显著降低
• 充分匹配ATE应用场景:强大灵活的数据库管理功能,协助研发深度分析数据
功能与优势
多主机并行程控,更灵活的ATE多线程任务处理
• 支持不同类型的模块混合并行测试,支持测试OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56 模块
产品图片
科学设计——双面TEC+水冷机实现更强悍的温循效率
• 升降温时间: ~2 min,温度控制范围: -5˚C~ +75˚C,温度控制准确:±1˚C,温度测试:模块DMI温度,被测模块功耗:15W/模块,被测模块数量:4个QSFP-DD模块并行温度控制
产品图片
集成光口误码分析仪(BERT),MCB,以及TEC温循控制单元
• 可应用于400G/800G光模块在高低温环境下的误码性能及眼图质量测试,支持QSFP-DD, OSFP, QSFP112等光模块封装形式
产品图片
耗材维护——方便、经济
• 主板/MCB分体设计 - 模块插拔寿命到限后,只需单独拆下MCB更换,光模块插拔 - 系统实时计数,及时提醒用户注意耗材寿命,TEC/压结盒/MCB等耗材配件均考虑简易拆装设计
产品图片
典型应用场景
面向光模块测试、光链路误码测试等应用场景。
• 光模块测试
• 光链路误码测试
资源下载
• 官网「资源下载 / 支持文档」提供软件与文档,详见官方产品页。
• MTP8104 详细指标见 MTP8104 详细指标页。
注:以上内容与指标取自苏州联讯仪器股份有限公司官网该产品详情页与官方数据手册。
联讯仪器 · onetest 仪器资源库

 

 

光模块测试仪 MTP8104 详细指标|联讯仪器

联讯仪器 Semight
光模块测试仪 MTP8104 详细指标
联讯仪器800G四通道光模块测试仪是集误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪,多路待测模块MCB,多路独立控温单元,无需外部射频电缆互联。
产品简介
联讯仪器800G四通道光模块测试仪是集误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪,多路待测模块MCB,多路独立控温单元,无需外部射频电缆互联。通过不同热循环设置,实现不同环境温度条件下的高速光模块误码测试。
技术指标
该型号官网未附独立规格表,以下为官方产品页公布的参数与特性指标。
产品特点
• 速率支持范围:24.33~56.4 GBaud,各通道可独立配置为NRZ或PAM4信号制式
• 测试功能丰富:支持硬件PCS层FEC编解码及纠错分析,支持高精度误码采样模式(<10ms)
• 信号质量优异:快速上升下降沿、低固有抖动
• 丰富测试码型:PRBS7~31Q;SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等
• 效率高,一站式解决:集成TEC温循件,实现低成本化的快速高效的三温测试
• 配件/选件丰富:耗材维护成本低,MCB耗材可独立更换
• 综合成本低:测试工位配置更加灵活,配件更换便捷,综合测试成本显著降低
• 充分匹配ATE应用场景:强大灵活的数据库管理功能,协助研发深度分析数据
功能与优势
• 多主机并行程控,更灵活的ATE多线程任务处理:支持不同类型的模块混合并行测试,支持测试OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56 模块
• 升降温时间:~2 min,温度控制范围: -5˚C~ +75˚C,温度控制准确:±1˚C,温度测试:模块DMI温度,被测模块功耗:15W/模块,被测模块数量:4个QSFP-DD模块并行温度控制
• 集成光口误码分析仪(BERT),MCB,以及TEC温循控制单元:可应用于400G/800G光模块在高低温环境下的误码性能及眼图质量测试,支持QSFP-DD, OSFP, QSFP112等光模块封装形式
• 耗材维护——方便、经济:主板/MCB分体设计 - 模块插拔寿命到限后,只需单独拆下MCB更换,光模块插拔 - 系统实时计数,及时提醒用户注意耗材寿命,TEC/压结盒/MCB等耗材配件均考虑简易拆装设计
资源下载
• MTP8104 产品介绍见 MTP8104 产品介绍页。
说明
以上指标摘自苏州联讯仪器股份有限公司官网该产品详情页与官方数据手册;若与随机文件不一致,以随箱文件为准。
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