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    0.3GHz至110GHz单柱面紧缩场|中测国宇 (在产)

    参考价格 ：

    厂家：中测国宇|北京中测国宇科技有限公司 （收录25个产品）

    产地：中国

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    系统与解决方案

    北京中测国宇科技有限公司 · 天线测试

    单柱面紧缩场

    0.3至110GHz · 口面利用系数 120%至150% · 大尺寸目标测试
    120%至150%
    口面利用系数
    0.3至110GHz
    工作频率
    1.2×0.5米起
    静区尺寸
    ±5°
    校准相位浮动
    产品定位

    单抛物面反射面，即只在一个方向上是抛物面，另外一个方向为柱面的反射面。使用这种反射面的紧缩场具有抛物面紧缩场完全不同的电磁特性。

    单抛物面紧缩场采用抛物柱面将馈源发出的球面波校准为柱面波。由于柱面波的扩散作用，其优点就是具有很高的口面利用系数，大约介于 120%至150% 之间。静区的横向尺寸与反射面尺寸相当甚至更大，这对于大尺寸目标的测试是相当有利的，但由于其静区并不是均匀平面波，对测试结果需要修正处理才能获得远场方向图。单抛物面紧缩场主要用来测试大尺寸的目标。使用单抛物面紧缩场相当于在一个面上使用远场方式，另一个垂直的面上使用近场方式。这种折中的方案大大降低了抛物面紧缩场高昂的费用。

    核心参数
    · 结构形式：单抛物面反射面（一向抛物面、一向柱面）
    · 口面利用系数：约 120%至150%
    · 静区尺寸：1.2×0.5米 至 30×10米
    · 工作频率：0.3至110GHz（分档）
    · 幅度锥削：1.5dB
    · 幅度波纹：±0.5dB
    · 校准相位浮动：±5°
    产品特点
    · 产品特点
    – 口面利用率高 —— 柱面波扩散带来 120%至150% 的口面利用系数。
    – 近远场变换 —— 一面按远场、另一垂直面按近场方式，测试结果经修正后获得远场方向图。
    – 成本较低 —— 折中方案大幅降低抛物面紧缩场的费用。
    – 适合大尺寸目标测试 —— 静区横向尺寸与反射面尺寸相当甚至更大。
    型号参数

    下表为官网公布的型号档位，具体配置以厂家最终确认为准。

    – S1205V：静区尺寸 1.2×0.5；反射面尺寸 1.0×1.0；工作频率 8.0至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 6.0×4.0×2.5
    – S2510V：静区尺寸 2.5×1.0；反射面尺寸 2.0×2.0；工作频率 4.0至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 10.0×6.0×5.0
    – S4015V：静区尺寸 4.0×1.5；反射面尺寸 3.0×3.0；工作频率 0.8至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 20.0×10.0×7.0
    – S7030V：静区尺寸 7.0×3.0；反射面尺寸 6.0×6.0；工作频率 0.8至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 23.0×15.0×12.0
    – S10040V：静区尺寸 10.0×4.0；反射面尺寸 8.0×8.0；工作频率 0.5至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 32.0×20.0×16.0
    – S30010V：静区尺寸 30.0×10.0；反射面尺寸 26.0×20.0；工作频率 0.3至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 70.0×46.0×30.0
    资源下载
    · 本页仅列出核心参数，完整技术指标请见本页「详细指标」标签页。
    北京中测国宇科技有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

     

     

    北京中测国宇科技有限公司 · 天线测试

    单柱面紧缩场 · 详细指标

    0.3至110GHz · 口面利用系数 120%至150% · 大尺寸目标测试
    产品简介

    单抛物面反射面，即只在一个方向上是抛物面，另外一个方向为柱面的反射面。使用这种反射面的紧缩场具有抛物面紧缩场完全不同的电磁特性。

    单抛物面紧缩场采用抛物柱面将馈源发出的球面波校准为柱面波。由于柱面波的扩散作用，其优点就是具有很高的口面利用系数，大约介于 120%至150% 之间。静区的横向尺寸与反射面尺寸相当甚至更大，这对于大尺寸目标的测试是相当有利的，但由于其静区并不是均匀平面波，对测试结果需要修正处理才能获得远场方向图。单抛物面紧缩场主要用来测试大尺寸的目标。使用单抛物面紧缩场相当于在一个面上使用远场方式，另一个垂直的面上使用近场方式。这种折中的方案大大降低了抛物面紧缩场高昂的费用。

    完整技术指标
    · 结构形式：单抛物面反射面（一向抛物面、一向柱面）
    · 口面利用系数：约 120%至150%
    · 静区尺寸：1.2×0.5米 至 30×10米
    · 工作频率：0.3至110GHz（分档）
    · 幅度锥削：1.5dB
    · 幅度波纹：±0.5dB
    · 校准相位浮动：±5°
    产品特点
    – 口面利用率高 —— 柱面波扩散带来 120%至150% 的口面利用系数。
    – 近远场变换 —— 一面按远场、另一垂直面按近场方式，测试结果经修正后获得远场方向图。
    – 成本较低 —— 折中方案大幅降低抛物面紧缩场的费用。
    – 适合大尺寸目标测试 —— 静区横向尺寸与反射面尺寸相当甚至更大。
    型号参数

    下表为官网公布的型号档位，具体配置以厂家最终确认为准。

    – S1205V：静区尺寸 1.2×0.5；反射面尺寸 1.0×1.0；工作频率 8.0至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 6.0×4.0×2.5
    – S2510V：静区尺寸 2.5×1.0；反射面尺寸 2.0×2.0；工作频率 4.0至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 10.0×6.0×5.0
    – S4015V：静区尺寸 4.0×1.5；反射面尺寸 3.0×3.0；工作频率 0.8至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 20.0×10.0×7.0
    – S7030V：静区尺寸 7.0×3.0；反射面尺寸 6.0×6.0；工作频率 0.8至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 23.0×15.0×12.0
    – S10040V：静区尺寸 10.0×4.0；反射面尺寸 8.0×8.0；工作频率 0.5至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 32.0×20.0×16.0
    – S30010V：静区尺寸 30.0×10.0；反射面尺寸 26.0×20.0；工作频率 0.3至110；幅度锥削 1.5；幅度波纹 ±0.5；校准相位浮动 ±5；暗室建议尺寸 70.0×46.0×30.0
    北京中测国宇科技有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

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    厂家联系方式

    公司：北京中测国宇科技有限公司

    电话：010-82233321

    电邮：sales@g-mt.cn

    办公地址：北京市海淀区学院路39号唯实大厦1105单元

    工厂地址：北京市怀柔区雁栖北三街16号院1号楼1至2层01

    成都办事处：四川省成都市青羊区西货站路6号安格斯恒通中心北塔10层1007号


     

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