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针对Memory Wafer的CP测试
具备对存储器晶圆功能测试和DC参数测试
整机测试速率高达400MHz
可提供从探针卡到整机的一站式解决方案
全方位满足NORFLASH/NAND/DDR器件的CP测试
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JH6800 CP Test System 存储芯片CP测试设备|武汉精测 (在产)
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武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH6800 CP Test System 存储芯片CP测试设备
存储芯片测试 · 存储晶圆测试系统
产品简介
针对Memory Wafer的CP测试，具备对存储器晶圆功能测试和DC参数测试，整机测试速率高达400MHz，核心器件自研可控，可提供从探针卡到整机的一站式解决方案，全方位满足NORFLASH/NAND/DDR器件的CP测试。
核心参数
• 设备尺寸（W×D×H）：TH：1490×830×600 mm；MF：600×950×1800 mm
• 电源 电流（Tester）：75 A
• 电源 电压：AC380 V-3Phase
• 测试速率：400 MHz / 800 Mbps
• IO 通道数：9216
资源下载
• JH6800 CP Test System 存储芯片CP测试设备 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH6800 CP Test System 存储芯片CP测试设备 详细指标
存储芯片测试 · 存储晶圆测试系统
详细指标
指标取自厂家官网该产品页的规格表截图，按原图转写，未做换算。
主要技术参数
• 设备尺寸（W×D×H）：TH：1490×830×600 mm；MF：600×950×1800 mm
• 电源 电流（Tester）：75 A
• 电源 电压：AC380 V-3Phase
• 测试速率：400 MHz / 800 Mbps
• IO 通道数：9216
• DPS 通道数：1728@1.2 A/通道
• PMU 通道数：9216
• 适配 DUT：NOR / NAND / DRAM 等
武汉精测官网 www.wuhanjingce.com 产品页与官方产品手册，采集于 2026-10-22
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