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快速准确的实现双联光纤跳线IL、RL和极性测试
免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试
RL免缠绕测试,单芯双波长测试速度小于0.6s,最低可检测-80dB(单模)

同厂商产品

包含高速激光器、模拟传输(CATV)或拉曼放大器的光系统需要高回波损耗来实现最大性能。而且,光回波损耗测量可用来证明安装已细心准确地完成;例如,这些测量可以表明光连接器已经过检测并且干净。超灵敏功率计与稳定的光源相结合,可实现最大70dB的测量范围。
Optimeter是VIAVISolutions面向光功率计应用推出的产品,面向现场测试与实验室验证场景。
VIAVIOMK-3xV2光纤测试套件是一系列小巧且坚固耐用的仪表,用于安装和维护单模(SM)和多模(MM)光纤网络。所有测试套件均配备光功率计,以及专用于光功率、插入损耗测量和连续性检查的双波长或四波长功率计光源。
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MORL MAP-300 PCT插回损测试模块|VIAVI Solutions (在产)

光学连接解决方案(光连接器、结构化布线、分光器和外面的外壳)是连接密集的中央办公室、数据中心和光配送网络的核心。除电信、数据通信、无线回程和FTTx外,新的超级计算机应用也随着不断增长的航海、航空和军事应用而出现。所有这些市场都对带宽有着更高的需求。

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VIAVI Solutions · 唯亚威
MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL)
单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。
产品简介
光学连接解决方案(光连接器、结构化布线、分光器和外面的外壳)是连接密集的中央办公室、数据中心和光配送网络的核心。除电信、数据通信、无线回程和 FTTx 外,新的超级计算机应用也随着不断增长的航海、航空和军事应用而出现。所有这些市场都对带宽有着更高的需求。出于降低安装成本和快速部署等需求,市场上出现了新型连接器格型式。
但这些连接点的质量和光学性能却经常被忽视。较差的插入和回波损耗(IL 和 RL)会对网络性能产生长期严重的影响。性能差会直接影响传送率、可靠性,甚至会妨碍技术升级。同时,经济因素要求制造商继续降低成本、加速生产并加快上市时间。
VIAVI 无源器件/连接器测试解决方案 (PCT) 由一组功能强大的模块、软件和外围设备组成,可测试光连接产品的插入损耗、回波损耗、物理长度以及极性。利用 VIAVI MAP 系列平台的模块化和连通性,PCT 可针对研发、生产或验收测试环境进行配置,并支持从单模到 OM1 和 OM4 的所有主要光纤类型的测试。
mORL 通常与光开关 (mOSW/mISW ) 和远程光功率计 (mOPM) 模块结合使用。
产品特性
· 生产效率提高 4 倍
· 与其他解决方案相比只需要 25% 的空间
· 可扩展到新高速增长、高性能应用,如 40/100G 数据中心市场
· 模组化平台可根据需求和预算进行扩展
· 端口映射可在 15 秒内验证多纤芯 MPO 盒的连通性和极性
· 完全支持高速增长的 MPO 和 MTP 多纤芯连接器
典型应用
· 测试光连接器和线缆组件,结构化布线解决方案,以及分光器的IL/RL/长度,
· 自动测试多纤芯器件,例如 MPO
· 单模和多模光纤器件的解决方案
· 验证大型多纤芯器件的连通性和极性
· 测量线卡和光收发模块的 RL
相关平台
· MAP-220C 多应用平台:提供一个灵活的、更具成本效益的紧凑平台,用于光学设备和子系统开发及制造中的光学测试切换和信号调节。
· MAP-300 多应用平台:经过优化的第三代光学测试和测量系统,可实现紧凑而经济实惠的光通信技术产品的开发和制造。
资源下载
本页信息整理自 VIAVI Solutions 官方网站与官方技术资料,实际配置与指标以厂商最新规格书为准。
详细指标请见 MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL) 详细指标页。
MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL) · VIAVI Solutions · onetest 仪器资源库

 

 

VIAVI Solutions · 唯亚威
MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL) · 详细指标
单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。
产品简介
光学连接解决方案(光连接器、结构化布线、分光器和外面的外壳)是连接密集的中央办公室、数据中心和光配送网络的核心。除电信、数据通信、无线回程和 FTTx 外,新的超级计算机应用也随着不断增长的航海、航空和军事应用而出现。所有这些市场都对带宽有着更高的需求。出于降低安装成本和快速部署等需求,市场上出现了新型连接器格型式。
但这些连接点的质量和光学性能却经常被忽视。较差的插入和回波损耗(IL 和 RL)会对网络性能产生长期严重的影响。性能差会直接影响传送率、可靠性,甚至会妨碍技术升级。同时,经济因素要求制造商继续降低成本、加速生产并加快上市时间。
VIAVI 无源器件/连接器测试解决方案 (PCT) 由一组功能强大的模块、软件和外围设备组成,可测试光连接产品的插入损耗、回波损耗、物理长度以及极性。利用 VIAVI MAP 系列平台的模块化和连通性,PCT 可针对研发、生产或验收测试环境进行配置,并支持从单模到 OM1 和 OM4 的所有主要光纤类型的测试。
说明
VIAVI 未单独发布该型号的独立数据手册,其指标随所属平台/系列手册一并给出,故本页不单列易生歧义的参数表。下列特性与应用整理自官网产品页与官方系列手册。
产品特性
· 生产效率提高 4 倍
· 与其他解决方案相比只需要 25% 的空间
· 可扩展到新高速增长、高性能应用,如 40/100G 数据中心市场
· 模组化平台可根据需求和预算进行扩展
· 端口映射可在 15 秒内验证多纤芯 MPO 盒的连通性和极性
· 完全支持高速增长的 MPO 和 MTP 多纤芯连接器
典型应用
· 测试光连接器和线缆组件,结构化布线解决方案,以及分光器的IL/RL/长度,
· 自动测试多纤芯器件,例如 MPO
· 单模和多模光纤器件的解决方案
· 验证大型多纤芯器件的连通性和极性
· 测量线卡和光收发模块的 RL
官方资料
产品定位、特性与应用请见 MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL) 产品介绍页。
MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL) 详细指标 · VIAVI Solutions · onetest 仪器资源库

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网站:www.viavisolutions.cn


 

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