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58635Series 最大6吋晶圆光电组件晶圆点测系统 支持Pulse与CW模式|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
58635Series 光电组件晶圆点测系统
最大6吋晶圆 · 支持Pulse与CW模式
产品简介
随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。其中，雷射二极管 (Laser Diode) 除通讯应用外，也朝消费性应用扩展。因应此全新市场，Chroma藉由多年累积之光电量测技术，开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。
58635系列最大可测试6吋晶圆，并搭配Chroma电子之精密测试仪器设备，如电流源与温度控制器，能满足雷射二极管测试之严苛要求，雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异，58635系列机种精准之温度控制，能提供稳定、准确之量测数值。
产品功能与优势
主要特点
• 依据ISO/IEC标准
• 最大可测试6吋晶圆
• 宽广的测试范围与高精准温度控制
• 同时支持Pulse与CW模式操作
• LIV量测 : Model 58635-L 近场量测 : Model 58635-N 远场量测 : Model 58635-F
• 支持Multisite测试
Model 58635系列因应不同测试需求，共包含3机种：58635-L，58635-N，以及 58635-F。
LIV量测系统
Chroma电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测，搭配积分球与光谱仪，提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能，所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。
近场量测系统
58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范，对于雷射二极管之光束传播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束质量 (Beam Quality) 之相关参数，提供精准快速之量测。
远场量测系统
58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量，诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼安全相关规范，58635-F能于远场找寻光束最强之处，从而判断是否符合人眼安全相关规范。
应用范围
主要型号与技术规格
该系列共收录 4 个具体型号，以下为前 4 个（完整规格见详细指标页）。
• 58635-L 叙述 光电元件晶圆LIV点测系统
• 58635-N 叙述 光电元件近场量测点测系统
• 58635-F 叙述 光电元件远场量测点测系统
• 58635-LN 叙述 Photonics Device Probing LIV & NF Test System
资源下载
• 58635Series 详细指标见 58635Series 详细指标页。
• 官方 PDF（型录）：58635Series-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
58635Series 详细指标
最大6吋晶圆 · 支持Pulse与CW模式
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 4 个具体型号。
58635-L
• 叙述：光电元件晶圆LIV点测系统
58635-N
• 叙述：光电元件近场量测点测系统
58635-F
• 叙述：光电元件远场量测点测系统
58635-LN
• 叙述：Photonics Device Probing LIV & NF Test System
资源下载
• 58635Series 产品介绍见 58635Series 产品介绍页。
• 官方 PDF（型录）：58635Series-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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