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Chroma 58212-C是一台精准控温、多点测试、自动化的外延片(Epitaxial Wafer)/芯片(Chip)探测针光电应用测试设备，提供快速且准确的光电性能量测，广泛的应用于雷射二极体(Laser Diode)和发光二极体(Light-Emitting Diode)等产品。
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6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器，频率范围覆盖10MHz~110GHz，集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式，具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，能够精确测量光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电…
精确测量3dB截频、差分、交调/互调、噪声系数等参数测试波长 覆盖C波段（1530-1565nm），1310±5nm，可定制波长点绝对频率响应精度 ±1.1dB@8GHz相对频率响应精度 ±0.7dB@8GHz幅频响应重复性 ±0.13dB@8GHz
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因应大量3D感测 (3D-sensing) 应用于生活，如消费性电子感测、车载手势与面部感应、车用高级辅助驾驶系统 (Advanced Driver Assistance System, ADAS) 发展等，短脉冲雷射被广泛应用于户外与需要长距离感测之应用情境。
随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。
58212-C 8英吋光电元件点测机|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
58212-C 光电元件点测机
8英吋
产品简介
Chroma 58212-C是一台精准控温、多点测试、自动化的外延片(Epitaxial Wafer)/芯片(Chip)探测针光电应用测试设备，提供快速且准确的光电性能量测，广泛的应用于雷射二极体(Laser Diode)和发光二极体(Light-Emitting Diode)等产品。
58212-C的点测系统采用了灵活的设计，提供不同类型的光电元件测试，包括水平结构(Lateral)、垂直结构(Vertical)和倒装晶片(Flip Chip)；测试前的扫描程序可提供完整的晶圆扫描图以保证测试的精度；专利探针头可防止待测物刮伤并确保每一个芯片接触。
产品功能与优势
主要特点
• 高速及高精度测试
• 支援水平结构、垂直结构和倒装型芯片
• 支援到8英吋晶圆
• 支援不同电性测试范围(LD或LED)
• 精准快速对位的扫描程序
• 支援多点测试功能(multi-site)
• 支援auto load/unload
此机型提供多点测试(multi-site)设计，透过客制化的架构可支援一次下针测试多点位置，此设计可稳定测试并节省测试时间，增加测试效能。
透过Chroma的独特光学设计可取得精确且稳定快速的光学数据，如：光功率、中心波长、峰值波长、半峰全宽及色温等。量测光学的同时也可获取电性数据，如：顺向电流、顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压、斜率效率、光电转换效率等，以上光电测试皆在一次下针的时间内完成。
软体操作介面及先进的逻辑演算法，可使得生产效益大幅提升；完善的测试报表与良率统计供使用者轻松掌握生产状况。
测试项目
电源特性量测
光特性量测
硬体设备
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 58212-C 叙述 光电元件点测机
资源下载
• 58212-C 详细指标见 58212-C 详细指标页。
• 官方 PDF（型录）：58212_C-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
58212-C 详细指标
8英吋
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
58212-C
• 叙述：光电元件点测机
资源下载
• 58212-C 产品介绍见 58212-C 产品介绍页。
• 官方 PDF（型录）：58212_C-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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