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高精度、易于使用的智能光谱分析仪（OSA），用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪（OSA）
同厂商产品
WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试（可调光源扫描）与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（焊接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s（AQ6370D，步距 0.1nm）。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数。
无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统，兼容扫描测试与点光源测试，支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s，自动判定结果并批量生成出货报表。
DWDM 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持 DWDM/AWG 模块（器件）与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试。支持多工位对可调光源实时并行共享扫描，工位互不干扰。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），单通道扫描时间 6 至 10s、单点 PDL 纯测时间 3 至 5s，自动计算 ITU IL、Min/Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、中心波长偏移量、Bandwidth、Isolation、Crosstalk 等参数，并自动判定与生成出货报表。
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CWDM一拖四扫描测试系统 1260至1620nm OSW扫描|光泰通信 (在产)
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系统与解决方案
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
CWDM一拖四扫描测试系统
CWDM 器件与模块扫描测试 · OSW 扫描 · 宽带光源与 OSA 四工位共享
产品简介
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，CWDM一拖四扫描测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：OSW 扫描
• 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 可测产品类型：CWDM 器件、CWDM 模块、FWDM
主要特点
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。
兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
自动扫描并计算ITU IL、Min IL、Max IL、Ripple、TDL，Isolation以及不同dB值条件下的CWL、Bandwidth等各种参数。
兼容复杂的CWDM模块扫描测试和计算，如混合了EXP、UPG、Coupler器件和Monitor通道的WDM模块，或者是MUX/DEMUX，TX/RX等多个模块组合的特殊模组。
自动判定测试结果；所有数据通过SQL Server数据库海量保存，自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 CWDM一拖四扫描测试系统 详细指标页
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光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
CWDM一拖四扫描测试系统 · 详细指标
CWDM 器件与模块扫描测试 · OSW 扫描 · 宽带光源与 OSA 四工位共享
产品简介
充分利用宽带光源和光谱分析仪的低利用率实现宽带光源和光谱仪的共享，可以供四个测试工位分时复用执行测试。兼容CWDM器件和模块扫描测试。支持高低温测试，升降温的自动延时控制。
官方规格表
下表按光泰通信官网 CWDM一拖四扫描测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL 等
• 插损（IL）不确定度：±0.05 dB（光纤熔接测试）；±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：OSW 扫描
• 单通道扫描时间：6 至 8 s（AQ6370，1250 至 1650 nm，步距 0.1 nm）
• 可测产品类型：CWDM 器件、CWDM 模块、FWDM
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 CWDM一拖四扫描测试系统 产品介绍页
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