客服
面向低成本闪存的多功能测试系统，兼具前道晶圆测试与后道封装测试能力，Tester-per-Site 架构让每个 Site 独立运行
ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号厂商登录
同厂商产品
面向高速协议 NAND 闪存（UFS4.0、PCIe Gen5 embedded NAND）的系统级测试方案，单机多协议支持，测试速度可达 32Gbps
覆盖 NAND 闪存到 DDR／LPDDR-DRAM 的多功能存储器测试系统，速率最高 5.4Gbps，提供 STH／LTH／MTH 三种测试头配置
兼顾 DRAM 与 NAND 闪存的批量存储器测试系统，支持晶圆分选与后道封装测试，MRA 冗余分析能力可挽回更多芯片
- «
- 1
- »
T5830 闪存测试系统 800Mbps|爱德万测试 (在产)
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
T5830/T5830ES T5830 闪存测试系统 800Mbps
工作频率 400MHz · 数据率 800Mbps · 晶圆测试 2304 同测 · 时序精度 ±350ps
产品简介
T5830 测试系统具备对低成本闪存存储器进行前道晶圆测试和后道封装测试所需的全部功能。系统采用可扩展的内置大电流可编程电源（PPS）架构，在处理从少引脚数到多引脚数存储器时具有灵活、经济的性能。
系统还采用爱德万的创新 Tester-per-Site 设计，允许每个 Site 独立运行，从而加快测试时间并降低测试的总体成本。T5830 共有两种型号（量产型与工程型），建立在相同平台上并采用与 T58xx 系列一致的 FutureSuite 软件。
官方定位：工作频率 400MHz · 数据率 800Mbps · 晶圆测试 2304 同测 · 时序精度 ±350ps
核心参数
• 工作频率：400MHz
• 数据率：高达 800Mbps
• 并行测试：前道晶圆测试 2,304（x4pin）／后道封装最终测试 768
• 综合时间精度：±350ps
• 目标器件：NOR 闪存、NAND 闪存（含 SPI 协议器件）
• 扩展器件：EEPROM、智能卡／SIM 等少引脚数闪存
• 软件：FutureSuite OS（ATL 与 MPAT 兼容）
Tester-per-Site 架构
• 每个 Site 独立运行，加快测试时间
• 降低测试的总体成本
可扩展电源架构
• 内置大电流可编程电源（PPS）
• 处理少引脚数到多引脚数存储器时具备灵活、经济的性能
双型号覆盖
• 量产型与工程型两种型号，同一平台
• 适用于质量测试与大批量生产
• 与 T58xx 系列共用 FutureSuite 软件，提供模块化升级能力
典型应用场景
• NOR／NAND 闪存晶圆测试
• 闪存后道封装测试
• 智能卡与 SIM 等少引脚存储器测试
• EEPROM 与嵌入式闪存测试
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 T5830/T5830ES 详细指标页
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 T5830/T5830ES
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
T5830/T5830ES · 详细指标
工作频率 400MHz · 数据率 800Mbps · 晶圆测试 2304 同测 · 时序精度 ±350ps
产品简介
面向低成本闪存的多功能测试系统，兼具前道晶圆测试与后道封装测试能力，Tester-per-Site 架构让每个 Site 独立运行。
官方定位：工作频率 400MHz · 数据率 800Mbps · 晶圆测试 2304 同测 · 时序精度 ±350ps
核心规格
• 工作频率：400MHz
• 数据率：高达 800Mbps
• 并行测试：前道晶圆测试 2,304（x4pin）／后道封装最终测试 768
• 综合时间精度：±350ps
• 目标器件：NOR 闪存、NAND 闪存（含 SPI 协议器件）
• 扩展器件：EEPROM、智能卡／SIM 等少引脚数闪存
• 软件：FutureSuite OS（ATL 与 MPAT 兼容）
Tester-per-Site 架构
• 每个 Site 独立运行，加快测试时间
• 降低测试的总体成本
可扩展电源架构
• 内置大电流可编程电源（PPS）
• 处理少引脚数到多引脚数存储器时具备灵活、经济的性能
双型号覆盖
• 量产型与工程型两种型号，同一平台
• 适用于质量测试与大批量生产
• 与 T58xx 系列共用 FutureSuite 软件，提供模块化升级能力
典型应用场景
• NOR／NAND 闪存晶圆测试
• 闪存后道封装测试
• 智能卡与 SIM 等少引脚存储器测试
• EEPROM 与嵌入式闪存测试
官方产品页指标原文
• 该测试系统的工作频率为400MHz，能够生成高达800兆比特/秒（Mbps）的数据传输率。此外，当T5830测试四个数字引脚的存储器时，可同时处理多达2,304个被测器件(DUT）。
• 高达800Mbps
• ±350ps
注：以上指标按爱德万测试中国站产品页与其公开手册整理，未特别说明者为厂商标称值；如官网与手册冲突以厂商最新发布为准。
资源下载
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 T5830/T5830ES 详细指标
全部
爱德万测试官方渠道
官方渠道（官网 / 热线 / 邮箱）
• 爱德万测试（中国）管理有限公司
• 电话 +86-21-6163-0000
• 传真 +86-21-2028-7600
• 地址
上海市张江高科技园区华佗路 168 号 3 号楼 C 幢（邮编 201203）
• 网址 https://www.advantest.com/cn/
全国办事处
• 日本总部 +81-3-3214-7500
• 美洲
+1-408-456-3600 欧洲：+49-89-993-12-0 东南亚：+65-6347-3888
• 韩国
+82-41-901-3900 中国台湾：+886-3-659-3666
• 中国
上海市张江高科技园区华佗路168号3号楼C幢（邮编 201203） +86-21-6163-0000
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758