3506-10 C测试仪 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试。模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量。提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度。1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量。根据BIN的测定区分容量。
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3506-10 C测试仪 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试|日置 (在产)
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