ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号
客服
厂商登录
同厂商产品
把电源、SMU、图形发生器、任意波形发生器、数字化仪与示波器收进一台紧凑机体的模数混合测量系统，拖拽式 GUI 直接搭出器件测量环境。
面向 LCD／OLED 显示驱动 IC 的测试平台，最多 3584 个 LCD 通道，配 μV 量级灰阶测试新板卡与 MIPI／eDP 高速接口支持。
模块化架构的 SoC 测试平台，从 13 插槽风冷到 52 插槽液冷、最多 8192 个数字通道，靠多站点 CPU 让 8 名工程师同时调试同一颗芯片。
- «
- 1
- »
V93000 单平台可扩展 SoC 测试系统|爱德万测试 (在产)
参考价格 ：
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
V93000 单平台可扩展 SoC 测试系统
单一可扩展测试平台 · 覆盖数码／射频／模拟／电源混合器件 · EXA Scale 架构
产品简介
V93000 是爱德万测试的旗舰 SoC 自动测试设备（ATE）平台，采用「单一可扩展平台」战略：同一套架构从紧凑的工程系统一直延伸到高引脚数的晶圆分选与最终测试系统，覆盖大规模量产（HVM）场景。
平台的一体化能力涵盖射频、数码、电源和模拟等不同解决方案，面向 AI 与高性能计算（HPC）、医疗设备、高级驾驶辅助系统（ADAS）等应用。因其可扩展性与多代兼容性，已有载荷板与上一代 Smart Scale 仪器均可继续使用，测试程序也可跨代复用，保护测试硬件与工程基础设施投资。
官方定位：单一可扩展测试平台 · 覆盖数码／射频／模拟／电源混合器件 · EXA Scale 架构
核心参数
• 架构：单一可扩展平台，多代测试仪兼容
• 互连：Xtreme Link 专利 ATE 通信网络，支持卡对卡即时通信与嵌入式计算
• 电流范围：mA 级至 >1000A
• 高压应用：-10V 至 +24V
• 高速结构测试：支持通过 USB 或 PCIe 传输 SCAN 数据
• 冷却方式：水冷架构，历经四代迭代
• 软件：SmarTest（沿用既有测试程序与工具链）
• 仪器：单引脚测试处理器，数码／模拟／射频仪器共用
平台可扩展性
• 测试仪配置范围最广：从小巧的工程系统到高引脚数的晶圆分选与最终测试系统
• 覆盖高性能计算与 AI、移动与射频、汽车与工业等最广泛的应用
• 各代测试仪兼容，最大化测试能力利用率
EXA Scale 新一代架构
• 针对超大规模性能的先进数码 IC，支持新的测试方法以降低测试成本（CoT）并加快上市时间（TTM）
• 应对爆炸性扫描数据量、极高功耗要求、快速收益学习、高引脚数与高多站点配置
• 载荷板与上一代 Smart Scale 仪器均可兼容，支持平稳过渡
混合信号与多形态覆盖
• 可在一个测试系统上测试数码、射频、模拟和电源等混合器件功能
• 适用于不同尺寸测试头的可扩展解决方案
• 探针卡、DUT 板与测试程序可跨代使用
典型应用场景
• 移动处理器、ADAS 处理器、HPC 与 AI 芯片的量产测试
• 晶圆分选（Wafer Sort）与最终测试（Final Test）
• IDM、代工厂与设计公司的工程验证与大批量制造
• 全球主要 OSAT 的成品测试产线
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 V93000 详细指标页
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 V93000
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
V93000 · 详细指标
单一可扩展测试平台 · 覆盖数码／射频／模拟／电源混合器件 · EXA Scale 架构
产品简介
一台覆盖数码、射频、模拟与电源的单一可扩展 ATE 平台，EXA Scale 架构配合 Xtreme Link 专利互连，从工程验证一路做到高引脚数晶圆分选与终测。
官方定位：单一可扩展测试平台 · 覆盖数码／射频／模拟／电源混合器件 · EXA Scale 架构
核心规格
• 架构：单一可扩展平台，多代测试仪兼容
• 互连：Xtreme Link 专利 ATE 通信网络，支持卡对卡即时通信与嵌入式计算
• 电流范围：mA 级至 >1000A
• 高压应用：-10V 至 +24V
• 高速结构测试：支持通过 USB 或 PCIe 传输 SCAN 数据
• 冷却方式：水冷架构，历经四代迭代
• 软件：SmarTest（沿用既有测试程序与工具链）
• 仪器：单引脚测试处理器，数码／模拟／射频仪器共用
平台可扩展性
• 测试仪配置范围最广：从小巧的工程系统到高引脚数的晶圆分选与最终测试系统
• 覆盖高性能计算与 AI、移动与射频、汽车与工业等最广泛的应用
• 各代测试仪兼容，最大化测试能力利用率
EXA Scale 新一代架构
• 针对超大规模性能的先进数码 IC，支持新的测试方法以降低测试成本（CoT）并加快上市时间（TTM）
• 应对爆炸性扫描数据量、极高功耗要求、快速收益学习、高引脚数与高多站点配置
• 载荷板与上一代 Smart Scale 仪器均可兼容，支持平稳过渡
混合信号与多形态覆盖
• 可在一个测试系统上测试数码、射频、模拟和电源等混合器件功能
• 适用于不同尺寸测试头的可扩展解决方案
• 探针卡、DUT 板与测试程序可跨代使用
典型应用场景
• 移动处理器、ADAS 处理器、HPC 与 AI 芯片的量产测试
• 晶圆分选（Wafer Sort）与最终测试（Final Test）
• IDM、代工厂与设计公司的工程验证与大批量制造
• 全球主要 OSAT 的成品测试产线
官方产品页指标原文
• 这种革命性的接口可将 DUT 板和探针卡上的可用空间增加 50% 或更多，而晶圆探针和最终测试装置可容纳的元件高度可增加三倍以上。
注：以上指标按爱德万测试中国站产品页与其公开手册整理，未特别说明者为厂商标称值；如官网与手册冲突以厂商最新发布为准。
资源下载
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 V93000 详细指标
全部
爱德万测试官方渠道
厂家联系方式
爱德万测试（中国）管理有限公司
电话：+86-21-6163-0000
传真：+86-21-2028-7600
地址：上海市张江高科技园区华佗路 168 号 3 号楼 C 幢（邮编 201203）
网址：https://www.advantest.com/cn/
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758