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3674 系列矢量网络分析仪
500Hz/10MHz 至 9GHz~120GHz · 二/四端口 · 系统动态范围 133dB@10GHz · 迹线噪声 ≤0.0020dB@10GHz · 脉冲 S 参数 / 混频器矢量 / 噪声系数
产品简介
Ceyear 3674 系列矢量网络分析仪面向半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试与微波部组件测试等场景。
系列以同一套射频平台按频率分成 12 个主机型号,频率下限 500Hz/10MHz,上限自 9GHz 起逐级覆盖至 120GHz;
二端口与四端口构型、台式与分体式结构可分别选配。
系列把脉冲 S 参数、混频器/变频器标量与矢量测量、增益压缩、噪声系数、频谱测量、信号完整性分析、THD 测量与自动夹具移除等功能做进同一台主机,配合一次连接、
一次校准即可完成多参数测量的工作方式,减少反复改接线带来的误差与时间开销。

3674L 四端口矢量网络分析仪(1.85mm 接头,正面)
核心参数
• 频率范围:500Hz/10MHz 至 9 / 14 / 20 / 26.5 / 32 / 44 / 50 / 53 / 67 / 90 / 110 / 120GHz(分型号)
• 频率分辨率:0.1Hz
• 系统动态范围:133dB@10GHz(3674B/C/D/E,标配)
• 系统迹线噪声:≤0.0020dB @10GHz、≤0.015°@10GHz(IFBW 1kHz)
• 有效方向性:44dB@10GHz(3674B/C/D/E)
• 端口最大输出功率:+13dBm@10GHz(3674B/C/D/E 标配)
• 接头形式:3.5mm / 2.4mm / 1.85mm / 1.0mm(阳头)
• 结构形式:台式;3674PA/QA 为分体式
功能特性
• 脉冲S参数测量
内置 4 路脉冲发生器,用于内部源调制与中频门控制,并从后面板输出,每路的脉宽与延时独立可设。
源调制来源包括后面板输入、内部脉冲发生器与常开/常闭状态,既可外接脉冲对源做调制,也可让源处于连续波状态,
通过触发同步完成测量,服务于 T/R 组件与天线收发模块的脉冲状态测试。

脉冲S参数测量
• 混频器/变频器标量测量分析
提供混频器/变频器特性设置,支持双阶本振与外部本振源输入,扫描类型含线性扫、功率扫与段扫。
设置完成后可自动完成 RF、双 LO、IF 之间倍频与分频等特性计算,并可分别设置源端口功率、本振端口功率、衰减与功率扫特性。

混频器/变频器标量测量分析
• 混频器/变频器矢量测量分析
提供幅度响应、绝对相位与绝对时延响应的测量能力。
校准时引入双混频器,分别完成参考通路与校准通路的变频;
两只混频器需与被测件变频特性一致,且校准混频器要求变频特性互易。
单次连接即可取得混频器/变频器的复数特性。

混频器/变频器矢量测量分析
• 增益压缩测量:通过一次连接、一次校准,完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入功率、压缩点输出功率与线性输入匹配等压缩参数测量。

增益压缩测量
• 增益压缩扫描三维图绘制:以三维视图展示被测件在激励状态下的工作性能,可同时给出频率切面与功率切面,便于逐点查看每个频率点、每个功率点上的特性变化。

增益压缩扫描三维图绘制
• 噪声系数测量
一次连接可同时测得 S 参数、噪声系数、噪声参数、增益压缩与变频增益。
基于冷源法测量噪声系数与噪声参数,并以噪声相关矩阵模型结合 S 参数校准,适用于噪声系数较小的被测件;
测量动态范围最大 55dB,也可覆盖增益较高的被测件。

噪声系数测量
• 频谱测量分析
每个端口都能测量被测件的输入谱与输出谱,在小分辨率带宽下定位杂散与谐波。
针对有源器件,单台仪器单次连接即可完成常规 S 参数测试与杂散、谐波的定位测量,比值与绝对测量误差修正技术用于提高读数准确度。

频谱测量分析
• 信号完整性测量分析
提供微米级空间分辨率的信号完整性分析,单一视图内同时完成时域与频域分析,可测传输线上阻抗特性的变化,并支持近端与远端串扰测试。
高级时域分析选件可基于网络参数生成并分析虚拟眼图,按高速数字通信标准的预定义模板做 Pass/Fail 判定。

信号完整性测量分析
• 总谐波失真(THD)测量分析
支持宽带测试,在真差分激励下分析输入输出功率、增益与谐波总失真等参数,简化差分器件的谐波测试。
单次校准同时完成多通道误差修正,测量参数可通过 XML 文件导入。

总谐波失真(THD)测量分析
• 自动夹具移除
封装微波器件、在片器件等非标准接头器件无法与仪器直接相连,需经夹具转接,而夹具会引入误差。
该功能完成夹具参数提取、存储与去嵌入,取得被测件的真实参数。

自动夹具移除
• 极致的用户体验
界面按测量流程组织,常用设置集中在同一层级,减少来回翻页;
配合大尺寸触摸屏完成参数编辑与结果显示,缩短从开机到取得第一条曲线的路径。

极致的用户体验
• 外设接口丰富,灵活实用
1-10MHz 外参考输入/输出;
110V/220V 自适应电源输入;
可拆卸 CPU 模块,配置硬盘、LAN、DP、USB、GPIB 接口;
激励输出与本振输出接口;
外中频输入、脉冲输入输出接口;
偏置 T 配置输入接口;
以及自动测试接口、触发输入/输出接口与噪声源电源接口。

外设接口丰富,灵活实用
应用场景
• 半导体芯片测试:在片与封装器件经夹具转接后,用自动夹具移除提取并去嵌夹具参数,还原芯片本体的 S 参数;配合 0.1Hz 频率分辨率与 110GHz/120GHz 上限覆盖毫米波在片测试。
• 材料测试:以宽带扫频取得基板、介质与封装材料的传输与反射特性,配合时域变换分离接头与夹具影响。
• 天线测试:四端口构型配合脉冲 S 参数与源调制,适用于 T/R 组件、天线收发模块在脉冲激励下的幅相测量。
• 高速线缆测试:信号完整性选件提供 TDR 时域阻抗、近端/远端串扰与虚拟眼图分析,用于线缆组件的阻抗一致性、串扰与通道余量评估。
• 微波部组件测试:混频器/变频器的标量与矢量测量、增益压缩、噪声系数与 THD 测量合于一台主机,一次连接即可覆盖放大、变频与失真类参数。
资源下载
• 3674 系列矢量网络分析仪 的全部技术指标已单独整理,见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自思仪(Ceyear)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
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