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QL67220提供数G兆位的收发器，用于验证SerDes接口的正确操作，并通过高速串行数据链路，以数据流形式传输数据。
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QL67220 28Gbps高速串口仪 8lane|派格测控 (在产)
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派格测控 · PGTEC
QL67220 高速串口仪
高速串口仪 · 28Gbps · 8lane
产品简介
QL67220提供数G兆位的收发器，用于验证SerDes接口的正确操作，并通过高速串行数据链路，以数据流形式传输数据。PXI高速串行设备包含一个用户可编程FPGA，可访问多个G兆位收发器以实现各种标准和自定义高速串行协议，这些设备可使用Xilinx开发工具对FPGA进行编程，以最大程度提高针对特定应用的自定义性和复用性。PXI高速串行设备还受益于PXI时钟、触发和高速数据移动功能，包括磁盘读写以及点对点数据流。
核心参数
• QSFP28接口收发器：传输速率 0.5Gb/s～28.2Gb/s
• 耦合方式：AC（TX）/DC（RX）
• 通道数：8（TX）/8（RX）
• DIO接口收发器：传输速率 0.5Gb/s～16.375Gb/s
• 耦合方式：AC（TX）/DC（RX）
• 通道数：4（TX）/4（RX）
• DIO接口IO：电压+3.3V/+2.5V/+1.8V/+1.5V/+1.2V
• 参考输入时钟：输入频率 10MHz～300MHz
功能与特点
• 基本规格：支持两组QSFP+接口实现高速串行器接收和发送
• 高带宽：28Gbps速
• 多通道：8lane
• 输入输出：同步参考输入和可编程参考时钟输出
型号与选件
• 主型号：QL67220
• 温度等级：√C: 商业等级(0℃~45℃) I：定制宽温
机械与环境规格
• 尺寸：20.3mm(宽) × 130.0mm(高) × 210.7mm(深)
• 重量：≤0.65kg
• 工作温度：0℃~45℃
• 存储温度：-40℃~70°C
• 相对湿度：20%~75%，无凝结
资源下载
• QL67220 详细指标见 QL67220 详细指标页。
注：官网产品页未提供独立数据手册或规格书 PDF，本页指标均取自该产品页在线技术参数表。
派格测控 PGTEC · onetest 仪器资源库
派格测控 · PGTEC
QL67220 高速串口仪 详细指标
高速串口仪 · 28Gbps · 8lane
QL67220提供数G兆位的收发器，用于验证SerDes接口的正确操作，并通过高速串行数据链路，以数据流形式传输数据。PXI高速串行设备包含一个用户可编程FPGA，可访问多个G兆位收发器以实现各种标准和自定义高速串行协议，这些设备可使用Xilinx开发工具对FPGA进行编程，以最大程度提高针对特定应用的自定义性和复用性。PXI高速串行设备还受益于PXI时钟、触发和高速数据移动功能，包括磁盘读写以及点对点数据流。
主要特点：基本规格：支持两组QSFP+接口实现高速串行器接收和发送；高带宽：28Gbps速；多通道：8lane；输入输出：同步参考输入和可编程参考时钟输出。
详细指标
• QSFP28接口收发器：传输速率 0.5Gb/s～28.2Gb/s
• 耦合方式：AC（TX）/DC（RX）
• 通道数：8（TX）/8（RX）
• DIO接口收发器：传输速率 0.5Gb/s～16.375Gb/s
• 耦合方式：AC（TX）/DC（RX）
• 通道数：4（TX）/4（RX）
• DIO接口IO：电压+3.3V/+2.5V/+1.8V/+1.5V/+1.2V
• 参考输入时钟：输入频率 10MHz～300MHz
• 输入幅度：0.3Vpp～4Vpp
• 接口：SMA AC耦合50欧姆输入阻抗
• 参考输出时钟：输出幅度 0.2Vpp～1Vpp
• 输出频率：2.344MHz～1000MHz
• 接口：SMA AC耦合50欧姆输出阻抗
• 存储深度：DDR4 8GB
机械与环境规格
• 尺寸：20.3mm(宽) × 130.0mm(高) × 210.7mm(深)
• 重量：≤0.65kg
• 工作温度：0℃~45℃
• 存储温度：-40℃~70°C
• 相对湿度：20%~75%，无凝结
选型配置
• 主型号：QL67220
• 温度等级：√C: 商业等级(0℃~45℃) I：定制宽温
注：以上指标取自派格测控官网该产品页的在线技术参数表；未标注「典型值」的为厂家公布值，实际性能以出厂校准数据为准。
资源下载
• QL67220 产品介绍见 QL67220 产品介绍页。
注：官网产品页未提供独立数据手册或规格书 PDF，如需完整技术资料可通过派格测控官方渠道索取。
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