ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号
客服
厂商登录
类似产品
应用于裸玻璃、光波导（AR）、玻璃光学镜头、COMS等无图形晶圆检测，搭载高度灵活的分辨率探头和双照明系统方案聚焦划伤、点伤、刮伤、崩边、崩角、脏污、Particle等表面缺陷检测。
应用于MEMS、Memory、RF、Power、 FOWLP、WLCSP、 Bumping、Chiplet等有图形晶圆检测。聚焦异物、显影不良、刮伤、变色、RDL、Gold Bump、Particle等表面缺陷检测，搭载高度灵活的分辨率探头、双照明系统方案、双工控服务器高性能64位操作系统，支持Co
应用于Logic、MEMS、Memory、RF、Power、 FOWLP、WLCSP、 Bumping、Chiplet等有图形晶圆检测。具备CD量测技术，对金属缺失、金属残留、刮伤、变色、RDL、Golden Bump、Particle等表面微小缺陷实现全自动化、高精度检测，广泛应用于晶圆制造的前道
同厂商产品
光芯片多面AI检测系统。DFB、EML芯片。
光芯片AI缺陷检测系统。PD、VCSEL。
晶圆智能光学检测系统。GPP、TSV、SKY。
AX-90 图形晶圆AI光学检测系统|矽电 (在产)
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
矽电|矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
AX-90 图形晶圆AI光学检测系统
晶圆检测系统 · 系统
产品简介
图形晶圆AI光学检测系统。主要面向8~12英寸图形晶圆。
核心参数
• 规格型号：AX-90
• 产品类别：晶圆检测系统
• 形态：系统
• 可测晶圆尺寸：12 英寸
功能特性
• 支持8~12英寸，配置两组上下片，双机械手交替作业。
• 高速自动对焦技术，实时预测晶圆表面不同区域的高度变化。
• 高速显微光学系统，并行图像处理，吞吐量＞100张/秒。
• 融合注意力机制，亚微米级检测精度，最小检测缺陷 < 0.5um。
• 智能缺陷标注，一个AI模型支持多种芯片，持续学习增量训练。
• 100%采用AI，利用CUDA加速引擎，对图像块并行分析与计算。
资源下载
• AX-90 图形晶圆AI光学检测系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自矽电半导体设备（深圳）股份有限公司官网（sidea.com）该产品详情页，未标注口径的为厂家公布值。
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司 · onetest 仪器资源库
矽电|矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
AX-90 图形晶圆AI光学检测系统 详细指标
晶圆检测系统 · 系统
详细指标
矽电官网该产品页未提供技术参数表（页面无参数表、也无可下载的数据手册）。此处完整列出官网给出的功能与应用条目，平台不对指标作推测补全；如需完整规格，请向厂家索取正式数据手册。
功能特点
• 支持8~12英寸，配置两组上下片，双机械手交替作业。
• 高速自动对焦技术，实时预测晶圆表面不同区域的高度变化。
• 高速显微光学系统，并行图像处理，吞吐量＞100张/秒。
• 融合注意力机制，亚微米级检测精度，最小检测缺陷 < 0.5um。
• 智能缺陷标注，一个AI模型支持多种芯片，持续学习增量训练。
• 100%采用AI，利用CUDA加速引擎，对图像块并行分析与计算。
应用领域
• 8~12英寸图形晶圆
资源下载
矽电官网 sidea.com 该产品详情页（采集于 2026-10-22）所给出的功能与应用条目
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司 · onetest 仪器资源库
全部
矽电半导体官方渠道
厂家联系方式（深圳总部）
公司：矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
电话：0755-28938875（业务专线）/ 0755-28957758
传真：0755-89724107
服务热线：400-8686-180
Email：sidea@sidea.com.cn
地址：广东省深圳市龙岗区龙城工业园3号厂房西侧四楼
无锡分公司
电话：0510-85450913
传真：0510-85450913
Email：sidea@sidea.com.cn
地址：江苏省无锡市梁溪区通扬路280-1号五星大厦910室
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758