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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
同厂商产品
ST2516/ST2532 是高速率系列数模混合信号测试系统，可以实现 32至320 个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统，支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
ST2500E 是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持 16 块板卡，数字 IO 通道数最高支持 512 通道。槽位兼容 ST2500 系列的功能板卡。同时该系统拥有 250Mbps 的测试速率，具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
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ST2500A 16槽位模数混合信号测试系统|加速科技 (在产)
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系统与解决方案
加速科技 Speedcury
高密度模数混合信号测试系统 ST2500A
单机 16 槽位、支持数字与模拟板卡混插的高密度模数混合信号测试系统。
产品简介
ST2500A 是基于 ST2500 系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源（DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT），可以满足各类数模混合高并行测试需求。
ST2500A 可应用于数模产品高并测试场景，其丰富的板卡功能、强大的软件工具和卓越的可靠性，满足 PMIC、LDO、放大器、LED 驱动器等模拟 IC、SoC/MCU 集成电路的晶圆、成品测试。
核心参数
• 资源槽位：单机支持 16 个槽位，支持不同功能板卡混插，实现高并行测试
• 板卡资源：DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT（OVM100、FOVI100 开发中）
• 级联能力：沿袭 ST2500 系列通信架构，支持多 ST2500A 机头级联，同时支持与 ST2500E 系列产品级联
• 测试场景：满足客户“大模小数”及“大模大数”的需求
• 开发软件：ST-IDE 软件提供强大的测试开发环境及量产管理环境，学习曲线极其简易
• 应用方向：PMIC、LDO、放大器、LED 驱动器等模拟 IC，以及 SoC/MCU 集成电路的晶圆与成品测试
产品关键特性
• 丰富的资源槽位，单机支持 16 个槽位，支持不同功能板卡混插，可以实现高并行测试，提高测试效率
• 丰富的模拟资源，支持 SMU20、FOVI50、OTMU、OVM100（开发中）、FOVI100（开发中）等
• 沿袭 ST2500 系列优秀的通信架构，支持多 ST2500A 机头级联，同时支持与 ST2500E 系列产品级联，可满足客户“大模小数”及“大模大数”的需求
• ST-IDE 软件强大的测试开发环境及量产管理环境，可为客户提供极其简易的学习曲线
型号与配置
• 单机配置：16 个资源槽位，支持 DFB32 / SMU20 / FOVI50 / OTMU / CBIT 等功能板卡混插
• 级联配置：多台 ST2500A 机头级联；可与 ST2500E 系列级联
典型应用场景
• PMIC 电源管理芯片测试
• LDO 线性稳压器测试
• 放大器测试
• LED 驱动器测试
• SoC/MCU 集成电路晶圆测试
• 成品测试（FT）
资源下载
以上内容与指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
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加速科技 Speedcury
高密度模数混合信号测试系统 ST2500A 详细指标
单机 16 槽位、支持数字与模拟板卡混插的高密度模数混合信号测试系统。
产品简介
ST2500A 是基于 ST2500 系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源（DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT），可以满足各类数模混合高并行测试需求。
ST2500A 可应用于数模产品高并测试场景，其丰富的板卡功能、强大的软件工具和卓越的可靠性，满足 PMIC、LDO、放大器、LED 驱动器等模拟 IC、SoC/MCU 集成电路的晶圆、成品测试。
技术指标
系统资源
• 资源槽位：单机 16 个槽位，支持不同功能板卡混插
• 板卡资源：DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT
• 在研板卡：OVM100、FOVI100
级联与扩展
• 机头级联：支持多 ST2500A 机头级联，沿袭 ST2500 系列通信架构
• 跨系列级联：支持与 ST2500E 系列产品级联
• 场景覆盖：满足“大模小数”及“大模大数”的并行测试需求
软件与开发环境
• 集成软件：ST-IDE，提供测试开发环境及量产管理环境
• 学习曲线：极简易，便于快速导入生产
目标器件
• 模拟 IC：PMIC、LDO、放大器、LED 驱动器等
• 数字/混合信号：SoC / MCU 等集成电路
• 测试阶段：晶圆测试与成品测试
资源下载
说明
以上指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
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