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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
同厂商产品
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统，支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
ST2500E 是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持 16 块板卡，数字 IO 通道数最高支持 512 通道。槽位兼容 ST2500 系列的功能板卡。同时该系统拥有 250Mbps 的测试速率，具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500A 是基于 ST2500 系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源（DFB32、SMU20、FOVI50、OTMU、CBIT），可以满足各类数模混合高并行测试需求。
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ST2516/ST2532 32至320通道数模混合信号测试系统 250Mbps|加速科技 (在产)
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系统与解决方案
加速科技 Speedcury
高速率数模混合信号测试系统 ST2516/ST2532
单机头 32至320 个数字通道灵活组合、多机头级联最高 1280 通道的高速率数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2516/ST2532 是高速率系列数模混合信号测试系统，可以实现 32至320 个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2516/ST2532 数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、IoT 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
核心参数
• 数字通道：单机头 32至320 通道，多机头级联最高 1280 通道
• 测试速率：250Mbps 线缆连接模式
• 系统配置：ST2516 为 160 数字通道 / 160 PPMU 通道 / 20 DPS；ST2532 为 320 数字通道 / 320 PPMU 通道 / 40 DPS；ST2564 为 640 数字通道 / 640 PPMU 通道 / 80 DPS
• 可扩展模块：SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi
• 开发软件：ST-IDE 集成开发环境，提供友好的开发环境与丰富的开发调试工具
• 图形转换：配套 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换工具，同时支持友商平台 pattern 转换
• 量产支持：工厂专用 GUI、数据显示监控与数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案
• 系统监控：智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
产品关键特性
• 支持多机头级联，单机头可实现 32至320 通道，级联最高可实现 1280 通道，根据客户产品需求实现最高机器利用率
• 系统支持 250Mbps 线缆连接模式，极大节省系统成本
• 系统集成的 ST-IDE 软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试
• 配套丰富的 pattern 转换工具，方便 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，同时支持友商平台 pattern 转换，有效提高调试效率
• 针对工厂量产提供专门 GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
型号与配置
根据测试资源要求，通过模块扩展，可以满足资源场景配置。
• ST2516：160 数字通道，160 PPMU 通道，20 DPS
• ST2532：320 数字通道，320 PPMU 通道，40 DPS
• ST2564：640 数字通道，640 PPMU 通道，80 DPS
典型应用场景
• SoC/MCU 芯片测试
• FLASH、EEPROM 存储器件测试
• Logic 逻辑器件测试
• LED Driver 驱动芯片测试
• CIS 图像传感器测试
• 指纹芯片测试
• PMIC 电源管理芯片测试
• Bluetooth / WiFi / IoT 模块系统级测试
资源下载
以上内容与指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
加速科技 Speedcury · onetest 仪器资源库
加速科技 Speedcury
高速率数模混合信号测试系统 ST2516/ST2532 详细指标
单机头 32至320 个数字通道灵活组合、多机头级联最高 1280 通道的高速率数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2516/ST2532 是高速率系列数模混合信号测试系统，可以实现 32至320 个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2516/ST2532 数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、IoT 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
技术指标
通道与速率
• 数字通道：单机头 32至320 通道，多机头级联最高 1280 通道
• 测试速率：250Mbps（线缆连接模式）
• PPMU / DPS：随配置档位提供，ST2516 为 160 PPMU / 20 DPS；ST2532 为 320 PPMU / 40 DPS；ST2564 为 640 PPMU / 80 DPS
系统配置档位
• ST2516：160 数字通道，160 PPMU 通道，20 DPS
• ST2532：320 数字通道，320 PPMU 通道，40 DPS
• ST2564：640 数字通道，640 PPMU 通道，80 DPS
可扩展资源
• 测试模块：SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi
• 连接方式：线缆连接模式（250Mbps）
软件与开发环境
• 集成软件：ST-IDE，提供用户友好的开发环境与丰富的开发和调试工具
• 图形转换：WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，支持友商平台 pattern 转换
量产与运维
• 工厂 GUI：专门 GUI，数据显示监控，提供丰富的数据记录分析工具
• 系统对接：支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 监控：智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
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说明
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