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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
同厂商产品
ST2516/ST2532 是高速率系列数模混合信号测试系统，可以实现 32至320 个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统，支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式，可以兼容 J Type 针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
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ST2500E 512通道数模混合信号测试系统 250Mbps|加速科技 (在产)
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系统与解决方案
加速科技 Speedcury
高密度数模混合信号测试系统 ST2500E
单机最高 16 块业务板、512 通道数字 I/O，测试速率 250Mbps 的高密度数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2500E 是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持 16 块板卡，数字 IO 通道数最高支持 512 通道。槽位兼容 ST2500 系列的功能板卡。同时该系统拥有 250Mbps 的测试速率，具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500E 高密度数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
核心参数
• 数字 I/O：单机头最高支持 16 块业务板，512 通道数字 I/O、512 通道 PPMU、64 通道 DPS
• 机头级联：多机头级联最高支持 2048 通道
• 测试速率：250Mbps
• 槽位兼容：槽位兼容 ST2500 系列功能板卡
• 可扩展模块：SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi
• 开发软件：ST-IDE 集成软件，提供友好的开发环境与丰富的开发调试工具
• 图形转换：配套 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换工具，同时支持友商平台 pattern 转换
• 量产与运维：工厂专用 GUI 与数据记录分析工具；智能软硬件维护系统提供故障代码定位
产品关键特性
• 单机头最高支持 16 块业务板，512 通道数字 I/O、512 通道 PPMU、64 通道 DPS
• 系统支持多机头级联，多机头级联最高支持 2048 通道
• 系统集成的 ST-IDE 软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试
• 配套丰富的 pattern 转换工具，方便 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，同时支持友商平台 pattern 转换，有效提高调试效率
• 针对工厂量产提供专门 GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 智能软硬件维护系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
型号与配置
• 单机头：16 块业务板，512 通道数字 I/O、512 通道 PPMU、64 通道 DPS
• 多机头级联：最高 2048 通道
典型应用场景
• SoC/MCU 芯片测试
• FLASH、EEPROM 存储器件测试
• CIS 图像传感器测试
• AIoT 模组测试
• LED Driver 驱动芯片测试
• FPGA 测试
• Sensor 传感器测试
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以上内容与指标摘自加速科技官网该产品详情页；若与随机文件不一致，以随箱文件为准。
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加速科技 Speedcury
高密度数模混合信号测试系统 ST2500E 详细指标
单机最高 16 块业务板、512 通道数字 I/O，测试速率 250Mbps 的高密度数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2500E 是高密度数模混合信号测试系统，该系统一个机箱最高支持 16 块板卡，数字 IO 通道数最高支持 512 通道。槽位兼容 ST2500 系列的功能板卡。同时该系统拥有 250Mbps 的测试速率，具有极高的成本优势。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如 SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi 等测试模块。
ST2500E 高密度数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
技术指标
通道与速率
• 数字 I/O：单机头最高 16 块业务板，512 通道数字 I/O
• PPMU / DPS：512 通道 PPMU，64 通道 DPS
• 机头级联：多机头级联最高支持 2048 通道
• 测试速率：250Mbps
槽位与扩展
• 槽位兼容：槽位兼容 ST2500 系列功能板卡
• 可扩展模块：SMU、HRAWG、HRDGT、Bluetooth、WiFi
软件与开发环境
• 集成软件：ST-IDE，提供用户友好的开发环境与丰富的开发和调试工具
• 图形转换：WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern，支持友商平台 pattern 转换
量产与运维
• 工厂 GUI：专门 GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具
• 系统对接：支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
• 监控：智能软硬件维护系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
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