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XI810 4站异步并行 分立器件测试系统|宏泰半导体 (在产)

四站异步并行的分立器件测试系统,HVI 800V/50A、小电流检测至 1.000uA,支持 UPH 65K/H 分选机。
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系统与解决方案

宏泰半导体 Macrotest · 南京宏泰半导体科技股份有限公司
XI810
由四个测量单元组成的高速分立器件测试系统,以异步并行架构实现四站独立测试与 65K/H 高速分选对接。
产品简介
XI810 高速分立器件测试系统由四个测量单元组成,通过异步并行测试架构实现高速并行测试和多站测试,具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力。
系统提供多种扩展测试选项,以更低的成本满足客户多样化的测试需求;测试系统包括用于测试电压、电流、漏电流和时间参数的功能部件,电源系统包括电源转换、控制保护、EMC 滤波等功能。
官方定位:由四个测量单元组成的高速分立器件测试系统,以异步并行架构实现四站独立测试与 65K/H 高速分选对接。
核心参数
• 测试站:最大 4(异步)
• HVI 电压:000.00V ~ 800.00V
• HVI 电流:00,000mA ~ 50,000mA
• LVI 电压:00.00V ~ 40.00V
• LVI 电流:00,000A ~ 10,000A
• 小电流检测量:0.000uA ~ 1.000uA
• 输出分辨率:16 bit
• 检测分辨率:18 bit
• 分 BIN 数:16 BIN(BCD 或二进制 200 BIN)
• 测试项目:最多 254 项
• 排序项目:最多 126 项
测试架构
• 新型高速异步测试系统体系结构
• 可扩展到 4 种测试头配置,单次和并行测试,可同时连接四台分选机
• 四站独立并行测试能力;高速分立器件测试技术架构
• 高速、高精度,支持 UPH 65K/H 高速分选机
• 支持 8Pin/12Pin 分立器件测试
• 具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力
软硬件选配
• JFET 测量模块
• 动态 PAT
• 漏电流自适配量程
• 外部仪器控制等软件功能
• 电源系统包括电源转换、控制保护、EMC 滤波等功能
测试选件
• pA 测试选件:5pA ~ 5nA,精度 1pA
• Cj 测试选件:1.5MHz、2Vrms、DC 20V
典型应用场景
• 二极管、齐纳二极管、晶体管
• MOSFET、晶闸管、IGBT
• 电压调节器、光耦
资源下载
• 详细指标:全部技术指标已单独整理,详见 XI810 详细指标页
onetest仪器资源库 · 宏泰半导体 XI810

 

 

宏泰半导体 Macrotest · 南京宏泰半导体科技股份有限公司
XI810 · 详细指标
由四个测量单元组成的高速分立器件测试系统,以异步并行架构实现四站独立测试与 65K/H 高速分选对接。
产品简介
四站异步并行的分立器件测试系统,HVI 800V/50A、小电流检测至 1.000uA,支持 UPH 65K/H 分选机。
官方定位:由四个测量单元组成的高速分立器件测试系统,以异步并行架构实现四站独立测试与 65K/H 高速分选对接。
核心规格
• 测试站:最大 4(异步)
• HVI 电压:000.00V ~ 800.00V
• HVI 电流:00,000mA ~ 50,000mA
• LVI 电压:00.00V ~ 40.00V
• LVI 电流:00,000A ~ 10,000A
• 小电流检测量:0.000uA ~ 1.000uA
• 输出分辨率:16 bit
• 检测分辨率:18 bit
• 分 BIN 数:16 BIN(BCD 或二进制 200 BIN)
• 测试项目:最多 254 项
• 排序项目:最多 126 项
整机规格
• 测试站:最大 4(异步)
• HVI 电压:000.00V ~ 800.00V
• HVI 电流:00,000mA ~ 50,000mA
• LVI 电压:00.00V ~ 40.00V
• LVI 电流:00,000A ~ 10,000A
• 小电流检测量:0.000uA ~ 1.000uA
• 输出分辨率:16 bit
• 检测分辨率:18 bit
• 分 BIN 数:16 BIN
• BCD 或二进制:200 BIN
• 测试项目:最多 254 项
• 排序项目:最多 126 项
测试选项
• pA 测试选件:5pA ~ 5nA,精度 1pA
• Cj 测试选件:1.5MHz、2Vrms、DC 20V
注:以上指标按南京宏泰半导体官方产品页规格表整理,未特别说明者为厂商标称值。
资源下载
• 产品概览:XI810 产品介绍页(定位、核心参数、选型与应用场景)
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网址:http://www.macrotest.com.cn


上海子公司(上海宏泰芯半导体科技有限公司)

电话:+86-21-53082067

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