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IM3523A LCR测试仪。40 Hz至200 kHz 测量时间 : 2 ms。基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下，整体测量速度提升至约原来的10倍（与旧机型3532 - 50相比）。
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12种测量参数|Z|，|Y|，C，L，X，B，R，G，D，Q，θ，DCR等；0.05%的基本测量准确度；20Hz-5MHz测试频率；高达75次/s的测量速度；测试电压或电流的自动电平控制ALC功能；30Ω，100Ω，10/100，10/CC四种不同信号源输出阻抗；内建比较器，10档分选及档计数功能；频响曲线绘图分析功能；10点列表扫描功能；内部-5V~+5V直流偏置电压源；精度高、高性价比；功能齐全、性能可靠；测量范围宽，灵敏度高。
12种测量参数|Z|，|Y|，C，L，X，B，R，G，D，Q，θ，DCR等；0.05%的基本测量准确度；20Hz-1MHz测试频率；高达75次/s的测量速度；测试电压或电流的自动电平控制ALC功能；30Ω，100Ω，10/100，10/CC四种不同信号源输出阻抗；内建比较器，10档分选及档计数功能；频响曲线绘图分析功能；10点列表扫描功能；内部-5V~+5V直流偏置电压源；精度高、高性价比；功能齐全、性能可靠；测量范围宽，灵敏度高。
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IM3523A LCR测试仪|日置 (在产)
产品描述
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系统与解决方案
日置 · HIOKI
IM3523A LCR测试仪
40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms
产品简介
40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms。IM3523A 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
产品特点
• 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
• 在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下，整体测量速度提升至约原来的10倍（与旧机型3532 - 50相比）。
• 搭载比较器和BIN测量（分类功能）
• 可进行测量时间为2msec的高速测量
功能亮点
LCR测试仪IM3523A测量方法：连续测量不同条件
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。此时用一台设备就能高速连续完成不同条件下的测量。
LCR测试仪IM3523A测量方法：具备面板读取功能，可让生产线的设置更改顺利进行
若要使用一台LCR测试仪对应多种产品的生产，就需要高效地进行设置更改。 IM3523A的面板保存功能可保存多达60个测量条件，以及128个诸如开路/短路补偿、电缆长度补偿等数值。通过面板读取功能，可读取已保存的测量条件。除手动读取外，还能通过外部控制端子控制面板编号的读取，从而缩短检测线自动化构建的时间。
可靠的产线检查：接触检查功能
在进行四端子测量时，可检测样品间的接触不良情况。 通过测量LPOT - LCUR间以及HPOT - HCUR间的接触电阻，若电阻值超过设定的阈值，将显示错误信息。
图：可靠的产线检查：接触检查功能
应用程序
请下载示例应用程序和参阅通讯命令的使用说明 LCR测试仪应用程序请点击
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。 LCR测试仪精度计算软件请点击
核心指标
• 测量模式：LCR模式：单一条件测量
• 测量参数：Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
• 测量量程：100mΩ～100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
• 可显示量程：Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp :
• 基本精度：Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
• 测量频率：40Hz ～200kHz （设置分辨率：5 位分辨率）
• 测量信号等级：V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms步进
• 输出阻抗：常规模式：100Ω
• 显示：单色LCD
• 测量时间：2ms(1kHz,FAST,代表值)
资源下载
• 详细指标请见 IM3523A LCR测试仪 详细指标页。
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库
日置 · HIOKI
IM3523A LCR测试仪
详细指标
产品简介
40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms。IM3523A 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
详细指标
基本参数（精度保证期1年）
• 测量模式：LCR模式：单一条件测量
连续测量模式：通过已保存的条件进行连续测量
• 测量参数：Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
• 测量量程：100mΩ～100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
• 可显示量程：Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp :
± (0.00000 [单位]〜9.99999G [单位]) Z和Y为绝对值显示
θ: ± (0.000°〜180.000°), D: ± (0.00000〜9.99999)
Q: ± (0.00〜99999.9), Δ%: ± (0.0000%〜999.999%)
• 基本精度：Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
• 测量频率：40Hz ～200kHz （设置分辨率：5 位分辨率）
• 测量信号等级：V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms步进
CC模式: 10μA～50mArms,10μArms步进
• 输出阻抗：常规模式：100Ω
• 显示：单色LCD
• 测量时间：2ms(1kHz,FAST,代表值)
• 功能：比较器，分类测量(BIN功能)，面板锁定/保存、存储功能
• 接口：EXT I/O(处理器)，USB通讯，LAN
• 电源：AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
• 尺寸及重量：260W × 88H × 203D mm, 2.1 kg
• 附件：电源线×1，启动指南×1，使用注意事项×1，LCR应用程序光盘×1
选件与型号
探头·测试治具
• SMD测试治具IM9110 直接连接，2端子，DC〜1MHz，可测样品尺寸：0201（JIS）
• 前端探针IM9902 用于更换L2001的前端的小型尺寸
• 前端探针IM9901 用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
• SMD测试治具IM9100 直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）
• 镊形探头L2001 线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm
• 4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
• DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
• DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
• 测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
• 4端子开尔文夹9140-10 DC~200kH，50 Ω，1 m长
• 4端子探头L2000 DC~8MHz，1m长
• SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
• SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
• SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
• 测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型
PC通讯
• GENNECT One SF4000 与各种测量仪器的搭配使用
替换部件
• 支撑脚Z7052
• 支撑脚Z7053
资源下载
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
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电话：021-63910090
全国客服热线：400-920-6010
邮编：200001
维修服务
维修服务中心：上海市黄浦区西藏中路268号来福士广场4705室
维修邮箱：weixiu@hioki.com.cn
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北京：北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦11层1118-1119室
广州：广州市天河区天河北路235号广州环贸中心3502C单元
深圳：深圳市福田区深南中路3031号汉国城市商业中心3202室
成都：成都市锦江区琉璃路8号华润广场B座1607室
苏州：苏州市虎丘区金山东路79号13幢苏州龙湖中心1901室
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