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6种测量参数组合C/D,L/Q,R/Q,Z/θ,C/R,L/R;0.1%的基本测量准确度;20Hz-100kHz,10个典型测试频率;0.1V、0.3V、1.0V三个典型测试电平;30Ω/100Ω两种可选源阻抗。精度高、高性价比;功能齐全、性能可靠;测量范围宽,灵敏度高。
频率范围:0.06 至 30 MHz系统测量:25、50、75、100 欧姆通信接口:UART,38400 波特SWR 测量范围:1 到 100R 和 X 系列:0…10000, -10000…10000射频输出:输出功率:+13 dBm(50 欧姆负载时)输出信号形状:方形,0.06 至 30 MHz连接器类型:SMA
0.1% 基本测量精度双 5 位高亮度显示屏自动组件识别内置4端子元件夹具限制比较器,具有 8 个合格箱和 2 个不合格箱三个测试频率,可切换偏置RS232接口标准可选的 SMD 镊子、BNC 连接器、Kelvin Clip 测试引线套件和 PC 记录软件

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ZC3001 高速多通道切换。搭载半导体继电器,高速又耐用。可支持频率 最大10MHz。切换时间 1ms。用PLC的I/O输出控制。
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IM3523A LCR测试仪。40 Hz至200 kHz 测量时间 : 2 ms。基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下,整体测量速度提升至约原来的10倍(与旧机型3532 - 50相比)。
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IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz|日置 (在产)

IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz。基本精度±0.05%,测量范围广(DC,1mHz〜200kHz, 5mV〜5V, 10μA〜50mA)。在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。

参考价格 :
产品描述
详细指标
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系统与解决方案

日置 · HIOKI
IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz
测量频率1mHz〜200kHz的LCR测试仪
产品简介
测量频率1mHz〜200kHz的LCR测试仪。IM3533 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
产品特点
• 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,1mHz〜200kHz, 5mV〜5V, 10μA〜50mA)。
• 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。
• 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
• (测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)
• 专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。
• 频率扫描测试(仅IM3533-01)
• 除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
• 内置比较器和BIN功能。
• 2ms的快速测试时间
功能亮点
LCR测试仪IM3533测量方法:连续测量不同条件
电容的测量条件下,希望120Hz时进行C-D测量。希望100kHz时进行ESR测量。这时,可以用1台仪器高速的连续测量不同条件。
LCR测试仪IM3533测量方法:线圈匝数比的测量
在变压器、线圈测量中,可以运算并显示初级和次级的L测量、线圈匝数比。彻底消除之前需要手动计算的麻烦。
LCR测试仪IM3533测量方法:互感的测量
在变压器的测量中同相串联后进行L测量,接着反相串联后进行L测量的同时可以运算并显示互感。彻底消除之前需要手动计算的麻烦。
LCR测试仪IM3533测量方法:频率扫描测量
IM3533-01能够根据指定的频率范围和频率列表,改变最大801点的频率后自动进行测量。测量结果能够通过U盘或者接口保存至PC中,使用附件中的LCR应用软件还能显示频率特性列表和图表。
2MHz阻抗的4ch测量方案

2MHz阻抗的4ch测量方案

图:2MHz阻抗的4ch测量方案

精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。 LCR测试仪精度计算软件请点击
核心指标
• 测量模式:LCR,变压器测试(N,M,△L), 连续测试(LCR模式)
• 测量参数:Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T
• 测量量程:100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
• 可显示量程:Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
• 基本精度:Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
• 测量频率:1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步进)
• 测量信号电平:[输出阻抗]
• 输出阻抗:正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω
• 显示:5.7英寸触摸屏,彩色TFT,显示可设置ON/OFF
• 测量时间:2ms(1kHz,FAST,显示OFF,代表值)
资源下载
• 详细指标请见 IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz 详细指标页。
注:本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料;选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库

 

 

IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz 详细指标 | 日置 - onetest仪器资源库

日置 · HIOKI
IM3533 LCR测试仪 测量频率1mHz至200kHz
详细指标
产品简介
测量频率1mHz〜200kHz的LCR测试仪。IM3533 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
详细指标
基本参数
• 测量模式:LCR,变压器测试(N,M,△L), 连续测试(LCR模式)
• 测量参数:Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T
• 测量量程:100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
• 可显示量程:Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位] ~9.999999G [单位])
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000° to 999.999°),
D: ± (0.000000 to 9.999999)
Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)
• 基本精度:Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
• 测量频率:1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步进)
• 测量信号电平:[输出阻抗]
V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式:10μA~50mArms,10μArms
[低阻抗高精度模式]
V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms
CC模式:10μA~100mArms,10μArms
• 输出阻抗:正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω
• 显示:5.7英寸触摸屏,彩色TFT,显示可设置ON/OFF
• 测量时间:2ms(1kHz,FAST,显示OFF,代表值)
• 功能:DC偏压测量、直流电阻温度补偿
(标准温度换算显示),比较器、BIN测量(分类功能),面板读取/保存、存储功能
• 接口:EXT I/O(处理器),USB通信(高速),USB存储
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
• 电源:100~240V AC,50/60Hz,最大50VA
• 尺寸及重量:330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg
• 附件:电源线×1,使用说明书×1
选件与型号
偏置单元
• DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型,40Hz~8MHz,最大外加电压DC±40V
• 电流BIAS 30A CN017 LCR用电流偏置单元的外挂电感,最大30A,需另配电源和9269-10
探头和测试治具
• 4端子探头L2000 DC~8MHz,1m长
• 4端子开尔文夹9140-10 DC~200kH,50 Ω,1 m长
• 镊形探头L2001 线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm
• 测试治具9261-10 线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
• 测试治具9262 DC~8 MHz, 直接连接型
• SMD测试治具9263 直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
• SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
• SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
• LCR底部电极测试治具 CN027 最大15㎜*7.75㎜*1.7㎜;最小3.81㎜*3.1㎜*0.3㎜
PC通讯
• GP-IB接口Z3000 外部控制用
• RS-232接口Z3001 外部控制用
• LAN接口Z3002
• GP-IB连接线9151-02 2m长
温度探头
• 温度探头 9478 Pt100,前端φ2 3mm,线长1m,防水结构
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成都:成都市锦江区琉璃路8号华润广场B座1607室

苏州:苏州市虎丘区金山东路79号13幢苏州龙湖中心1901室


 

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