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IM3536 LCR测试仪 测量频率DC，4 Hz至8 MHz。测量频率DC，4Hz~8MHz。测量时间：最快1ms。基本精度：±0.05% rdg。1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量。
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• 主控芯片：Xilinx UltraScale 系列 XCKU040-2FFVA1156I 芯片• 射频性能：支持双通道，2-lane TX 通道支持 10MHz 至 6GHz 频率输出范围； 2-lane RX 高速可调数据通道支持 10MHz 至 8GHz 频率输入范围• 丰富的扩展接口：2 个 HPC FMC 扩展接口；2 个千兆以太网接口；2 个 JTAG 下载调试接口；1 个 M.2 Socket 接口• ADC性能：分辨14 bits，采样率3G SPS• DAC性能：分辨16 bits，采样率12.6G SPS• 定制：FPGA 开发板的硬件接口和功能，配套的 ADC 子卡以及 DAC 子卡支持定制化服务
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IM3536 LCR测试仪 测量频率DC,4 Hz至8 MHz|日置 (在产)
产品描述
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日置 · HIOKI
IM3536 LCR测试仪 测量频率DC，4 Hz至8 MHz
测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪
产品简介
测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪。IM3536 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
产品特点
• 测量频率DC，4Hz~8MHz
• 测量时间：最快1ms
• 基本精度：±0.05% rdg
• 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
• 可内部发生DC偏压测量
• 从研发到生产线活跃在各种领域中
功能亮点
电解电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536
根据JIS标准测试电解电容器，电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大，因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。 LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz，适用于以上产品特性评估。
陶瓷电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536
陶瓷电容器可分为，随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz，内置电压范围10mV~5V，非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。
电感器（线圈）的电感测量：LCR测试仪IM3536
电感器（线圈）所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。 LCR测试仪IM3536的测量频率很广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改变测试频率进行测试。
测量电感器的频率特性：LCR测试仪IM3536
LCR测试仪IM3536的测量频率较广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，非常适合于评估连续改变频率的测量。在计算机中安装附件LCR采用应用软件（CD-R），并通过接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以进行扫频功能，自动测量出的测量数值能够以Excel或CSV格式进行保存。
宽广范围的测量条件下，非常适用于进行研发和评估实际使用条件的LCR测试仪
宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。推荐用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。 可变频率：DC, 4 Hz〜8 MHz 电压可变：10 mV〜5 V（V模式/CV模式） 电流可变：10 μA〜100 mA（CC模式） ※能够使用计算机设置扫频（或电压、电流），并将测量数据以CSV或Excel格式保存。应用软件请使用标配的CD进行安装，或从HP中下载。
图：宽广范围的测量条件下，非常适用于进行研发和评估实际使用条件的LCR测试仪
连续测量功能
希望以1kHz检查电源电感的L-Q，还想检查直流电阻（Rdc）。这时，1台IM3536就可以在2种测试要求下进行连续高速测试。
图：连续测量功能
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：测试线补偿
线长补偿设置可设置为：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。测试线延长时也能保证精度。
图：LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：测试线补偿
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：接触检查功能
4端子测量时，预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，并在超过所设阈值时发出报警信号。
图：LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：接触检查功能
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。 LCR测试仪精度计算软件请点击
Multi-plot
该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池，特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。 下载csv文件即可获取解析结果。软件详情介绍网站请点击这里。
图：Multi-plot
核心指标
• 测量模式：LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
• 测量参数：Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
• 测量量程：100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
• 显示范围：Z: 0.00 m~9.99999 GΩ,
Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°),
Q: ± (0.00~9999.99),
Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ),
D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
• 基本精度：Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
• 测量频率：4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
• 测量信号电平：[V模式, CV模式]的[通常模式]
• DC偏压：发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
• 输出阻抗：通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
• 显示：彩色TFT5.7英寸，触摸屏
资源下载
• 详细指标请见 IM3536 LCR测试仪 测量频率DC，4 Hz至8 MHz 详细指标页。
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库
日置 · HIOKI
IM3536 LCR测试仪 测量频率DC，4 Hz至8 MHz
详细指标
产品简介
测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪。IM3536 是 日置 官网 LCR测试仪 栏目下的产品。
详细指标
基本参数
• 测量模式：LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
• 测量参数：Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
• 测量量程：100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
• 显示范围：Z: 0.00 m~9.99999 GΩ,
Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°),
Q: ± (0.00~9999.99),
Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ),
D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
• 基本精度：Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
• 测量频率：4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
• 测量信号电平：[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
• DC偏压：发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
• 输出阻抗：通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
• 显示：彩色TFT5.7英寸，触摸屏
• 功能：比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
• 接口：EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
• 电源：AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
• 体积及重量：330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
• 附件：电源线×1,使用说明书×1
选件与型号
偏置单元
• DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
• 电流BIAS 30A CN017 LCR用电流偏置单元的外挂电感，最大30A，需另配电源和9269-10
适配软件
• 浆料分析系统 用于推测、追求理想浆料的内部状态
可配套使用的产品（2023年1月）
• 电压偏置测试系统CN010 半导体器件的直流偏置特性研究，适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试
• 多路扫描测试软件CN040 多通道测试
• 多路转换器ZC3001 高速多通道切换！
• LCR 应用软件 CN030 测量数据即时绘图！
探头·治具
• SMD测试治具IM9100 直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）
• 4端子开尔文夹9140-10 DC~200kH，50 Ω，1 m长
• 测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
• 测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型
• SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
• DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
• DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
• 4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
• SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
• SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
• 前端探针IM9901 用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
• 前端探针IM9902 用于更换L2001的前端的小型尺寸
• 4端子探头L2000 DC~8MHz，1m长
• 镊形探头L2001 线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm
• LCR底部电极测试治具 CN027 最大15㎜＊7.75㎜＊1.7㎜；最小3.81㎜＊3.1㎜＊0.3㎜
• 电池Y电容测试隔离模块 CN095 最高1000V耐压隔离，支持200 Hz ～ 30 kHz测试
PC通讯
• GP-IB连接线9151-02 2m长
• RS-232C 连接线 9637 9pin-9pin，1.8m长
替换部件
• 支撑脚Z7052
• 支撑脚Z7053
资源下载
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
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深圳：深圳市福田区深南中路3031号汉国城市商业中心3202室
成都：成都市锦江区琉璃路8号华润广场B座1607室
苏州：苏州市虎丘区金山东路79号13幢苏州龙湖中心1901室
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